探針臺(tái)產(chǎn)品及廠家

定制實(shí)驗(yàn)室探針臺(tái)高低溫真空探針測(cè)試系統(tǒng)材料測(cè)試儀器
錦正茂高低溫真空探針臺(tái)應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試,材料測(cè)試,霍爾測(cè)試,電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-14
氣氛型高溫探針臺(tái) 樣品材料電學(xué) 光學(xué)測(cè)試實(shí)驗(yàn)臺(tái)
快速實(shí)現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫,可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué),電學(xué)測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-06-14
真空探針臺(tái)高低溫測(cè)試實(shí)驗(yàn)臺(tái)材料測(cè)試霍爾測(cè)試
應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試,材料測(cè)試,霍爾測(cè)試,電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-14
三維磁場(chǎng)探針臺(tái)多維磁場(chǎng)實(shí)驗(yàn)裝置半導(dǎo)體材料測(cè)試
三維探針臺(tái)和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配,通過(guò)真正的雙性電源輸出,實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場(chǎng)合成。
更新時(shí)間:2025-06-14
實(shí)驗(yàn)室高低溫真空環(huán)境高精度探針臺(tái)防輻射實(shí)驗(yàn)臺(tái)
應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試,材料測(cè)試,霍爾測(cè)試,電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-14
JZM-D30室溫探針臺(tái)磁場(chǎng)、電源、樣品臺(tái)均可定制
該探針臺(tái)和我司自主研發(fā)的高精度雙性恒流電源搭配使用,可以提高磁場(chǎng)的高穩(wěn)定性。
更新時(shí)間:2025-06-14
低溫三維探針臺(tái)的技術(shù)參數(shù)
可以進(jìn)行真空環(huán)境中的高低溫測(cè)試(10k~325k)。磁場(chǎng)強(qiáng)度在x軸上為0.75t,在y軸上為0.75 t,在z軸上為0.4t。磁場(chǎng)均勻性:中心區(qū)域60mm球體內(nèi)為1%。
更新時(shí)間:2025-06-14
高溫磁場(chǎng)加熱系統(tǒng) 探針臺(tái)
主要技術(shù)指標(biāo):※ 溫度范圍:室溫—350℃(硅片上邊溫度)※ 控溫精度:±1℃※ 溫度分辨率:0.1℃※ 樣品尺寸:8英寸(需要有固定夾具,還有10mmx10mm,20mmx20mm樣品也需要考慮單獨(dú)固定)
更新時(shí)間:2025-06-14
錦正茂科技低溫三維磁場(chǎng)探針臺(tái) 半導(dǎo)體測(cè)試
可以進(jìn)行真空環(huán)境中的高低溫測(cè)試(10k~325k)。磁場(chǎng)強(qiáng)度在x軸上為0.75t,在y軸上為0.75 t,在z軸上為0.4t。
更新時(shí)間:2025-06-14
高低溫探針臺(tái) 用于傳感器 半導(dǎo)體 光電測(cè)試實(shí)驗(yàn)臺(tái)
1、真空腔體約直徑260mm,2、帶有4英寸高透射觀察窗,材質(zhì)熔融石英3、樣品載臺(tái)直徑:50mm 樣品載臺(tái)平整度<5微米
更新時(shí)間:2025-06-14
多維磁場(chǎng)探針臺(tái)半導(dǎo)體材料光學(xué)測(cè)量實(shí)驗(yàn)室儀器
錦正茂三維磁場(chǎng)探針臺(tái) 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、mems 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等域。
更新時(shí)間:2025-06-14
定制氣氛型高溫探針臺(tái)光學(xué)電學(xué)測(cè)試儀器
根據(jù)樣品材料,形狀不同可選擇探針,插拔等多種安裝測(cè)試方式。
更新時(shí)間:2025-06-14
高低溫真空探針臺(tái)材料測(cè)試電磁測(cè)試儀器
錦正茂高低溫真空探針臺(tái)應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試,材料測(cè)試,霍爾測(cè)試,電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-14
實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體材料測(cè)量?jī)x器定制高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)
實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體材料測(cè)量?jī)x器定制高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)該探針臺(tái)和我司自主研發(fā)的高精度雙性恒流電源搭配使用,可以提高磁場(chǎng)的高穩(wěn)定性。
更新時(shí)間:2025-06-14
實(shí)驗(yàn)測(cè)量設(shè)備磁場(chǎng)探針臺(tái)芯片測(cè)試 半導(dǎo)體測(cè)試儀器
實(shí)驗(yàn)測(cè)量設(shè)備磁場(chǎng)探針臺(tái)芯片測(cè)試半導(dǎo)體儀器用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試,材料測(cè)試,霍爾測(cè)試,電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-14
錦正茂科技 定制高低溫探針臺(tái) 芯片測(cè)試儀器
高低溫探針臺(tái)t8-ly100能夠?yàn)榘雽?dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)80k-420k高低溫測(cè)試環(huán)境,
更新時(shí)間:2025-06-14
高?蒲袑(shí)驗(yàn)室高低溫探針臺(tái)
可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及iv曲線等參數(shù)檢測(cè),用于低溫環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-06-14
半導(dǎo)體材料測(cè)量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空環(huán)境探針臺(tái)
半導(dǎo)體材料測(cè)量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空環(huán)境探針臺(tái) 錦正茂高低溫真空探針臺(tái)可進(jìn)行真空環(huán)境下的高低溫測(cè)試(4.2k~500k)。
更新時(shí)間:2025-06-14
半導(dǎo)體材料測(cè)量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空磁場(chǎng)環(huán)境探針臺(tái)
半導(dǎo)體材料測(cè)量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空磁場(chǎng)環(huán)境探針臺(tái) 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、mems 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等域。
更新時(shí)間:2025-06-14
三維磁場(chǎng)探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備
三維磁場(chǎng)探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備通過(guò)真正的雙性電源輸出,實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場(chǎng)合成。
更新時(shí)間:2025-06-14
氣氛型高溫探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)光學(xué)電學(xué)儀器
氣氛型高溫探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)光學(xué)電學(xué)儀器此款探針臺(tái)可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué),電學(xué)測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-06-14
半導(dǎo)體材料測(cè)量設(shè)備高低溫真空環(huán)境探針臺(tái)
半導(dǎo)體材料測(cè)量設(shè)備高低溫真空環(huán)境探針臺(tái)高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試,材料測(cè)試,霍爾測(cè)試,電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-14
材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)量高低溫真空磁場(chǎng)環(huán)境探針臺(tái)
材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)量高低溫真空磁場(chǎng)環(huán)境探針臺(tái)錦正茂高低溫真空探針臺(tái)高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試,材料測(cè)試,霍爾測(cè)試,電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-14
JZM-D30室溫探針臺(tái)材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)量設(shè)備儀器
jzm-d30室溫探針臺(tái)材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)量設(shè)備儀器錦正茂jzm-d30室溫探針臺(tái)的諸多設(shè)計(jì)都是﹡用的,探針臺(tái)的配置主要是根據(jù)用戶的需求進(jìn)行選配及設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-06-14
氣氛型高溫探針臺(tái)半導(dǎo)體材料測(cè)量
氣氛型高溫探針臺(tái)半導(dǎo)體材料測(cè)量快速實(shí)現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫,可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué),電學(xué)測(cè)試,測(cè)試中也可實(shí)現(xiàn)惰性氣體的快速充放。
更新時(shí)間:2025-06-14
  東莞模擬運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái)
東莞模擬運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái)東莞模擬運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái)儀器特點(diǎn):1. 模擬運(yùn)輸振動(dòng):該振動(dòng)臺(tái)能夠精準(zhǔn)地模擬汽車(chē)在道路上運(yùn)輸時(shí)的振動(dòng)情況,確保產(chǎn)品在運(yùn)輸過(guò)程中的質(zhì)量和穩(wěn)定性。2. 高精度控制系統(tǒng):配備高精度控制系統(tǒng),可精
更新時(shí)間:2025-06-13
MPI探針臺(tái)
mpi vega 探針系列已準(zhǔn)備好滿足激光二管(vcsel、eel)和光學(xué)模塊市場(chǎng)的各種測(cè)試和材料處理要求。
更新時(shí)間:2025-06-13
MPI探針臺(tái)
mpi avior 系列為光通信市場(chǎng)提供了廣泛的高性能探針系統(tǒng)陣容。我們的探針系統(tǒng)提供頂部發(fā)射 (tp)、倒裝芯片 (fp) 發(fā)射和裸片/封裝 (dp) 配置,以滿足您的特定測(cè)試要求。無(wú)論是研發(fā)還是大規(guī)模生產(chǎn),mpi的解決方案都能滿足您對(duì)準(zhǔn)確可靠測(cè)量的需求,同時(shí)降低測(cè)試成本。
更新時(shí)間:2025-06-13
MPI探針臺(tái)
micro led(μled)是顯示行業(yè)的顛覆性光學(xué)技術(shù)突破。micro led顯示器為消費(fèi)/顯示器/汽車(chē)應(yīng)用提供了巨大的潛力,因?yàn)榕c其他發(fā)射設(shè)備相比,它們更亮、更快、使用壽命更長(zhǎng)。憑借在光電器件測(cè)試方面積累的多年經(jīng)驗(yàn)和客戶互動(dòng),mpi 推出了 gemini 系列晶圓探針臺(tái),可提供快速、高效和精確的測(cè)量,幫助您應(yīng)對(duì) micro led 測(cè)試和測(cè)量挑戰(zhàn)。
更新時(shí)間:2025-06-13
MPI探針臺(tái)
capella系列探針臺(tái)支持從晶圓到封裝芯片的所有l(wèi)ed產(chǎn)品類(lèi)型(垂直芯片、橫向芯片、倒裝芯片)的電氣和光學(xué)表征。無(wú)論您是需要高性能、高性價(jià)比還是業(yè)探針系統(tǒng),mpi pa 都能提供全面的 led 晶圓/芯片探針機(jī)系列,以滿足您的嚴(yán)格要求。
更新時(shí)間:2025-06-13
探針臺(tái)
formfactor為其一流的150 mm探針臺(tái)引入了新的模塊化概念。這將使您更容易以令人難以置信的價(jià)格配置個(gè)性化探頭解決方案,以滿足當(dāng)和未來(lái)的需求。只需選擇一個(gè)基站,并根據(jù)需要添加任意數(shù)量的特定應(yīng)用入門(mén)套件。這款手動(dòng)探針臺(tái)是一款為初學(xué)者和小型實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)的入門(mén)設(shè)備。它可以用于對(duì)各種半導(dǎo)體器件進(jìn)行電流-電壓(iv)和電容-電壓(cv)特性的測(cè)試與分析。
更新時(shí)間:2025-06-13
探針臺(tái)
入門(mén)手動(dòng)探針臺(tái),用于表面耦合和水平邊緣耦合formfactor推出了一種具有成本效益的硅光子學(xué)測(cè)量解決方案,以支持新興應(yīng)用的基礎(chǔ)研究工作。該系統(tǒng)的設(shè)計(jì)是formfactor多年開(kāi)發(fā)自動(dòng)光子測(cè)量系統(tǒng)的經(jīng)驗(yàn) - 現(xiàn)在根據(jù)大學(xué)和其他入門(mén)用戶的需求量身定制。mps150-siph 可確保光纖可以精確對(duì)準(zhǔn),從而在不發(fā)生物理接觸的情況下將光耦合進(jìn)出設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-06-13
探針臺(tái)
summit200探針臺(tái)為研發(fā)、設(shè)備表征/建;蚶a(chǎn)應(yīng)用而設(shè)計(jì),可在超低噪聲、直流、射頻、毫米波和太赫茲應(yīng)用中進(jìn)行溫度范圍內(nèi)的精確電氣測(cè)量,具有半自動(dòng)和現(xiàn)在的全自動(dòng)操作,可盡快獲得準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-06-13
探針臺(tái)
cm300xi 探針臺(tái)可應(yīng)對(duì)其復(fù)雜的環(huán)境帶來(lái)的測(cè)量挑戰(zhàn),例如在長(zhǎng)時(shí)間和多種溫度下在小焊盤(pán)上進(jìn)行無(wú)人值守的測(cè)試。在 emi 屏蔽、光密和無(wú)濕氣的測(cè)試環(huán)境中,為各種應(yīng)用實(shí)現(xiàn)了一流的測(cè)量性能。熱管理增強(qiáng)功能和實(shí)驗(yàn)室自動(dòng)化功能可提高產(chǎn)量并縮短數(shù)據(jù)獲取時(shí)間。對(duì)于低溫測(cè)試,formfactor的開(kāi)放式iceshield™環(huán)境也可用于cm300xi。
更新時(shí)間:2025-06-13
赫爾納供應(yīng)美國(guó)biosearch探針BHQ
赫爾納供應(yīng)美國(guó)biosearch探針bhqbiosearch探針bhq™探針是傳統(tǒng)的,線性的,雙標(biāo)記的fret探針,通常長(zhǎng)度為20至30個(gè)基部,分別為5´和3´末端,分別將熒光團(tuán)和淬滅劑共同連接。
更新時(shí)間:2025-06-13
強(qiáng)勢(shì)供應(yīng)英國(guó)jandel探針-德國(guó)赫爾納歐洲直采5分鐘報(bào)價(jià)
jandel為我們所熟知的四點(diǎn)電阻率測(cè)量機(jī)制造電阻率探頭。我們還制造用于半導(dǎo)體行業(yè)以及大學(xué),實(shí)驗(yàn)室工作和研究應(yīng)用的電阻率測(cè)量設(shè)備。jandel engineering是一家私人有限公司,成立于1967年。我們的款產(chǎn)品是電解濕度計(jì)電池,它帶有一個(gè)用0.05mm直徑鉑絲(用于測(cè)量氣體中的水分)的螺旋切割石英成型雙線繞線管。
更新時(shí)間:2025-06-13
的英國(guó)Jandel探針-德國(guó)赫爾納
的英國(guó)jandel探針-德國(guó)赫爾納赫爾納貿(mào)易(大連)有限公司,2013年創(chuàng)建,德國(guó)公司,專(zhuān).業(yè).德國(guó)代.購(gòu),價(jià)格優(yōu)惠。
更新時(shí)間:2025-06-13
赫爾納-供應(yīng)德國(guó)diatest測(cè)針
赫爾納-供應(yīng)德國(guó)diatest測(cè)針德國(guó)總部直接采購(gòu)diatest測(cè)針,原裝產(chǎn)品,貨期好,支持選型,為您提供一對(duì)一好的解決方案:赫爾納大連公司在中國(guó)設(shè)有10個(gè)辦事處,可為您提供好的維修服務(wù)。
更新時(shí)間:2025-06-13
德國(guó)Veith測(cè)試探針
早在 1912 年,公司創(chuàng)始人 alfred konrad veith 就推出了他的臺(tái)無(wú)心磨床,他已經(jīng)使用它來(lái)生產(chǎn)精密圓形零件。柏林的工廠在第二次大戰(zhàn)的空襲中被摧毀。
更新時(shí)間:2025-06-13
德國(guó)bbe-Moldaenke熒光探針
赫爾納供應(yīng),德國(guó)總部直接采購(gòu)德國(guó)bbe-moldaenke熒光探針fluoroprobe,近30年進(jìn)口工業(yè)品經(jīng)驗(yàn),原裝產(chǎn)品,支持選型,為您提供一對(duì)一的解決方案:貨期穩(wěn)定,報(bào)價(jià),價(jià)格優(yōu),在中國(guó)設(shè)有8大辦事處提供相關(guān)售后服務(wù)。
更新時(shí)間:2025-06-13
赫爾納-供應(yīng)德國(guó)diatest測(cè)針BMD
德國(guó)總部直接采購(gòu)diatest測(cè)針,原裝產(chǎn)品,貨期好,支持選型,為您提供對(duì)好的解決方案:赫爾納大連公司在中國(guó)設(shè)有10個(gè)辦事處,可為您提供好的維修服務(wù)。
更新時(shí)間:2025-06-13
HYPERTAC插針0151081-20-1G
hypertac插針0151081-20-1g技術(shù)參數(shù)
更新時(shí)間:2025-06-13
CODA SYSTEMS探針PA1AX
coda system有彈簧加載的組件,用于板對(duì)板互連以及各種數(shù)據(jù),電源和電池充電應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-06-13
CODA SYSTEMS探針PA2AX
coda system有彈簧加載的組件,用于板對(duì)板互連以及各種數(shù)據(jù),電源和電池充電應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-06-13
TS2000-DP Probe System 經(jīng)濟(jì)高效的8寸半自動(dòng)高功率測(cè)試探針臺(tái)
ts2000-dp是mpi提供一套多功能且經(jīng)濟(jì)高效的8寸半自動(dòng)高功率測(cè)試探針臺(tái),可在20°c至300°c的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行晶圓載片上高功率應(yīng)用的測(cè)量,且測(cè)量能力高達(dá)3kv(三軸)/10kv(同軸)和600a(脈沖)。
更新時(shí)間:2025-06-13
TS300-SE Probe System  MPI 手動(dòng)晶圓探針臺(tái)系統(tǒng)(微屏蔽)
mpi ts300-shieldenvironment™(ts300-se)12英寸探針臺(tái)旨在對(duì)300mm晶圓及以下微小器件提供高emi / rfi /不透光屏蔽,超低噪聲,低泄漏測(cè)量功能環(huán)境。 它以佳高度與防震臺(tái)結(jié)合在一起,使日常操作非常方便
更新時(shí)間:2025-06-13
TS200-SE Probe System  MPI手動(dòng)晶圓探針臺(tái)系統(tǒng)(微屏蔽)
mpi ts200-shieldenvironment™(ts200-se)8英寸探針臺(tái)可提供高emi / rfi /不透光屏蔽,超低噪聲,低泄漏測(cè)量功能。
更新時(shí)間:2025-06-13
TS3500 Probe System  全自動(dòng)晶圓探針臺(tái)系統(tǒng)
ts3500和ts3500-se 在功能上與mpi的已建立的 ts3000 和 ts3000-se 300毫米探針臺(tái)具有相同的功能,并通過(guò)配置或升mpi獨(dú)特的waferwallet™而具有完全自動(dòng)化的功能。mpi的解決方案通過(guò)提供比其他供應(yīng)商的半自動(dòng)化產(chǎn)品更少的完全自動(dòng)化功能,降低了客戶的總體測(cè)試成本。
更新時(shí)間:2025-06-13
SiPH Probe System  半自動(dòng)晶圓探針臺(tái)系統(tǒng)
mpi為其的ts2000-se,ts3000,ts3000-se,ts3500和ts3500-se探針系統(tǒng)設(shè)計(jì)了用的siph升,
更新時(shí)間:2025-06-13

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熱門(mén)儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見(jiàn)分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)(PH計(jì)) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑