探針臺產(chǎn)品及廠家

真空探針臺高低溫測試實驗臺材料測試霍爾測試
應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試,材料測試,霍爾測試,電磁輸運(yùn)特性等。
更新時間:2025-06-14
三維磁場探針臺多維磁場實驗裝置半導(dǎo)體材料測試
三維探針臺和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配,通過真正的雙性電源輸出,實現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
更新時間:2025-06-14
實驗室高低溫真空環(huán)境高精度探針臺防輻射實驗臺
應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試,材料測試,霍爾測試,電磁輸運(yùn)特性等。
更新時間:2025-06-14
JZM-D30室溫探針臺磁場、電源、樣品臺均可定制
該探針臺和我司自主研發(fā)的高精度雙性恒流電源搭配使用,可以提高磁場的高穩(wěn)定性。
更新時間:2025-06-14
低溫三維探針臺的技術(shù)參數(shù)
可以進(jìn)行真空環(huán)境中的高低溫測試(10k~325k)。磁場強(qiáng)度在x軸上為0.75t,在y軸上為0.75 t,在z軸上為0.4t。磁場均勻性:中心區(qū)域60mm球體內(nèi)為1%。
更新時間:2025-06-14
高溫磁場加熱系統(tǒng) 探針臺
主要技術(shù)指標(biāo):※ 溫度范圍:室溫—350℃(硅片上邊溫度)※ 控溫精度:±1℃※ 溫度分辨率:0.1℃※ 樣品尺寸:8英寸(需要有固定夾具,還有10mmx10mm,20mmx20mm樣品也需要考慮單獨固定)
更新時間:2025-06-14
錦正茂科技低溫三維磁場探針臺 半導(dǎo)體測試
可以進(jìn)行真空環(huán)境中的高低溫測試(10k~325k)。磁場強(qiáng)度在x軸上為0.75t,在y軸上為0.75 t,在z軸上為0.4t。
更新時間:2025-06-14
高低溫探針臺 用于傳感器 半導(dǎo)體 光電測試實驗臺
1、真空腔體約直徑260mm,2、帶有4英寸高透射觀察窗,材質(zhì)熔融石英3、樣品載臺直徑:50mm 樣品載臺平整度<5微米
更新時間:2025-06-14
多維磁場探針臺半導(dǎo)體材料光學(xué)測量實驗室儀器
錦正茂三維磁場探針臺 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、mems 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等域。
更新時間:2025-06-14
定制氣氛型高溫探針臺光學(xué)電學(xué)測試儀器
根據(jù)樣品材料,形狀不同可選擇探針,插拔等多種安裝測試方式。
更新時間:2025-06-14
高低溫真空探針臺材料測試電磁測試儀器
錦正茂高低溫真空探針臺應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試,材料測試,霍爾測試,電磁輸運(yùn)特性等。
更新時間:2025-06-14
實驗室半導(dǎo)體材料測量儀器定制高精度實驗臺
實驗室半導(dǎo)體材料測量儀器定制高精度實驗臺該探針臺和我司自主研發(fā)的高精度雙性恒流電源搭配使用,可以提高磁場的高穩(wěn)定性。
更新時間:2025-06-14
實驗測量設(shè)備磁場探針臺芯片測試 半導(dǎo)體測試儀器
實驗測量設(shè)備磁場探針臺芯片測試半導(dǎo)體儀器用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試,材料測試,霍爾測試,電磁輸運(yùn)特性等。
更新時間:2025-06-14
錦正茂科技 定制高低溫探針臺 芯片測試儀器
高低溫探針臺t8-ly100能夠為半導(dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測試提供一個80k-420k高低溫測試環(huán)境,
更新時間:2025-06-14
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可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及iv曲線等參數(shù)檢測,用于低溫環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測試。
更新時間:2025-06-14
半導(dǎo)體材料測量高精度實驗臺高低溫真空環(huán)境探針臺
半導(dǎo)體材料測量高精度實驗臺高低溫真空環(huán)境探針臺 錦正茂高低溫真空探針臺可進(jìn)行真空環(huán)境下的高低溫測試(4.2k~500k)。
更新時間:2025-06-14
半導(dǎo)體材料測量高精度實驗臺高低溫真空磁場環(huán)境探針臺
半導(dǎo)體材料測量高精度實驗臺高低溫真空磁場環(huán)境探針臺 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、mems 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等域。
更新時間:2025-06-14
三維磁場探針臺測試系統(tǒng)實驗室測試設(shè)備
三維磁場探針臺測試系統(tǒng)實驗室測試設(shè)備通過真正的雙性電源輸出,實現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
更新時間:2025-06-14
氣氛型高溫探針臺測試系統(tǒng)光學(xué)電學(xué)儀器
氣氛型高溫探針臺測試系統(tǒng)光學(xué)電學(xué)儀器此款探針臺可在真空環(huán)境下對樣品進(jìn)行光學(xué),電學(xué)測試。
更新時間:2025-06-14
半導(dǎo)體材料測量設(shè)備高低溫真空環(huán)境探針臺
半導(dǎo)體材料測量設(shè)備高低溫真空環(huán)境探針臺高低溫真空環(huán)境下的芯片測試,材料測試,霍爾測試,電磁輸運(yùn)特性等。
更新時間:2025-06-14
材料實驗室半導(dǎo)體測量高低溫真空磁場環(huán)境探針臺
材料實驗室半導(dǎo)體測量高低溫真空磁場環(huán)境探針臺錦正茂高低溫真空探針臺高低溫真空環(huán)境下的芯片測試,材料測試,霍爾測試,電磁輸運(yùn)特性等。
更新時間:2025-06-14
JZM-D30室溫探針臺材料實驗室半導(dǎo)體測量設(shè)備儀器
jzm-d30室溫探針臺材料實驗室半導(dǎo)體測量設(shè)備儀器錦正茂jzm-d30室溫探針臺的諸多設(shè)計都是﹡用的,探針臺的配置主要是根據(jù)用戶的需求進(jìn)行選配及設(shè)計。
更新時間:2025-06-14
氣氛型高溫探針臺半導(dǎo)體材料測量
氣氛型高溫探針臺半導(dǎo)體材料測量快速實現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫,可在真空環(huán)境下對樣品進(jìn)行光學(xué),電學(xué)測試,測試中也可實現(xiàn)惰性氣體的快速充放。
更新時間:2025-06-14
赫爾納供應(yīng)美國biosearch探針BHQ
赫爾納供應(yīng)美國biosearch探針bhqbiosearch探針bhq™探針是傳統(tǒng)的,線性的,雙標(biāo)記的fret探針,通常長度為20至30個基部,分別為5´和3´末端,分別將熒光團(tuán)和淬滅劑共同連接。
更新時間:2025-06-13
強(qiáng)勢供應(yīng)英國jandel探針-德國赫爾納歐洲直采5分鐘報價
jandel為我們所熟知的四點電阻率測量機(jī)制造電阻率探頭。我們還制造用于半導(dǎo)體行業(yè)以及大學(xué),實驗室工作和研究應(yīng)用的電阻率測量設(shè)備。jandel engineering是一家私人有限公司,成立于1967年。我們的款產(chǎn)品是電解濕度計電池,它帶有一個用0.05mm直徑鉑絲(用于測量氣體中的水分)的螺旋切割石英成型雙線繞線管。
更新時間:2025-06-13
的英國Jandel探針-德國赫爾納
的英國jandel探針-德國赫爾納赫爾納貿(mào)易(大連)有限公司,2013年創(chuàng)建,德國公司,專.業(yè).德國代.購,價格優(yōu)惠。
更新時間:2025-06-13
赫爾納-供應(yīng)德國diatest測針
赫爾納-供應(yīng)德國diatest測針德國總部直接采購diatest測針,原裝產(chǎn)品,貨期好,支持選型,為您提供一對一好的解決方案:赫爾納大連公司在中國設(shè)有10個辦事處,可為您提供好的維修服務(wù)。
更新時間:2025-06-13
德國Veith測試探針
早在 1912 年,公司創(chuàng)始人 alfred konrad veith 就推出了他的臺無心磨床,他已經(jīng)使用它來生產(chǎn)精密圓形零件。柏林的工廠在第二次大戰(zhàn)的空襲中被摧毀。
更新時間:2025-06-13
德國bbe-Moldaenke熒光探針
赫爾納供應(yīng),德國總部直接采購德國bbe-moldaenke熒光探針fluoroprobe,近30年進(jìn)口工業(yè)品經(jīng)驗,原裝產(chǎn)品,支持選型,為您提供一對一的解決方案:貨期穩(wěn)定,報價,價格優(yōu),在中國設(shè)有8大辦事處提供相關(guān)售后服務(wù)。
更新時間:2025-06-13
赫爾納-供應(yīng)德國diatest測針BMD
德國總部直接采購diatest測針,原裝產(chǎn)品,貨期好,支持選型,為您提供對好的解決方案:赫爾納大連公司在中國設(shè)有10個辦事處,可為您提供好的維修服務(wù)。
更新時間:2025-06-13
  東莞模擬運(yùn)輸振動臺
東莞模擬運(yùn)輸振動臺東莞模擬運(yùn)輸振動臺儀器特點:1. 模擬運(yùn)輸振動:該振動臺能夠精準(zhǔn)地模擬汽車在道路上運(yùn)輸時的振動情況,確保產(chǎn)品在運(yùn)輸過程中的質(zhì)量和穩(wěn)定性。2. 高精度控制系統(tǒng):配備高精度控制系統(tǒng),可精
更新時間:2025-06-13
MPI探針臺
mpi vega 探針系列已準(zhǔn)備好滿足激光二管(vcsel、eel)和光學(xué)模塊市場的各種測試和材料處理要求。
更新時間:2025-06-13
MPI探針臺
mpi avior 系列為光通信市場提供了廣泛的高性能探針系統(tǒng)陣容。我們的探針系統(tǒng)提供頂部發(fā)射 (tp)、倒裝芯片 (fp) 發(fā)射和裸片/封裝 (dp) 配置,以滿足您的特定測試要求。無論是研發(fā)還是大規(guī)模生產(chǎn),mpi的解決方案都能滿足您對準(zhǔn)確可靠測量的需求,同時降低測試成本。
更新時間:2025-06-13
MPI探針臺
micro led(μled)是顯示行業(yè)的顛覆性光學(xué)技術(shù)突破。micro led顯示器為消費/顯示器/汽車應(yīng)用提供了巨大的潛力,因為與其他發(fā)射設(shè)備相比,它們更亮、更快、使用壽命更長。憑借在光電器件測試方面積累的多年經(jīng)驗和客戶互動,mpi 推出了 gemini 系列晶圓探針臺,可提供快速、高效和精確的測量,幫助您應(yīng)對 micro led 測試和測量挑戰(zhàn)。
更新時間:2025-06-13
MPI探針臺
capella系列探針臺支持從晶圓到封裝芯片的所有l(wèi)ed產(chǎn)品類型(垂直芯片、橫向芯片、倒裝芯片)的電氣和光學(xué)表征。無論您是需要高性能、高性價比還是業(yè)探針系統(tǒng),mpi pa 都能提供全面的 led 晶圓/芯片探針機(jī)系列,以滿足您的嚴(yán)格要求。
更新時間:2025-06-13
探針臺
formfactor為其一流的150 mm探針臺引入了新的模塊化概念。這將使您更容易以令人難以置信的價格配置個性化探頭解決方案,以滿足當(dāng)和未來的需求。只需選擇一個基站,并根據(jù)需要添加任意數(shù)量的特定應(yīng)用入門套件。這款手動探針臺是一款為初學(xué)者和小型實驗室設(shè)計的入門設(shè)備。它可以用于對各種半導(dǎo)體器件進(jìn)行電流-電壓(iv)和電容-電壓(cv)特性的測試與分析。
更新時間:2025-06-13
探針臺
入門手動探針臺,用于表面耦合和水平邊緣耦合formfactor推出了一種具有成本效益的硅光子學(xué)測量解決方案,以支持新興應(yīng)用的基礎(chǔ)研究工作。該系統(tǒng)的設(shè)計是formfactor多年開發(fā)自動光子測量系統(tǒng)的經(jīng)驗 - 現(xiàn)在根據(jù)大學(xué)和其他入門用戶的需求量身定制。mps150-siph 可確保光纖可以精確對準(zhǔn),從而在不發(fā)生物理接觸的情況下將光耦合進(jìn)出設(shè)備。
更新時間:2025-06-13
探針臺
summit200探針臺為研發(fā)、設(shè)備表征/建;蚶a(chǎn)應(yīng)用而設(shè)計,可在超低噪聲、直流、射頻、毫米波和太赫茲應(yīng)用中進(jìn)行溫度范圍內(nèi)的精確電氣測量,具有半自動和現(xiàn)在的全自動操作,可盡快獲得準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-06-13
探針臺
cm300xi 探針臺可應(yīng)對其復(fù)雜的環(huán)境帶來的測量挑戰(zhàn),例如在長時間和多種溫度下在小焊盤上進(jìn)行無人值守的測試。在 emi 屏蔽、光密和無濕氣的測試環(huán)境中,為各種應(yīng)用實現(xiàn)了一流的測量性能。熱管理增強(qiáng)功能和實驗室自動化功能可提高產(chǎn)量并縮短數(shù)據(jù)獲取時間。對于低溫測試,formfactor的開放式iceshield™環(huán)境也可用于cm300xi。
更新時間:2025-06-13
HYPERTAC插針0151081-20-1G
hypertac插針0151081-20-1g技術(shù)參數(shù)
更新時間:2025-06-13
CODA SYSTEMS探針PA1AX
coda system有彈簧加載的組件,用于板對板互連以及各種數(shù)據(jù),電源和電池充電應(yīng)用。
更新時間:2025-06-13
CODA SYSTEMS探針PA2AX
coda system有彈簧加載的組件,用于板對板互連以及各種數(shù)據(jù),電源和電池充電應(yīng)用。
更新時間:2025-06-13
TS2000-DP Probe System 經(jīng)濟(jì)高效的8寸半自動高功率測試探針臺
ts2000-dp是mpi提供一套多功能且經(jīng)濟(jì)高效的8寸半自動高功率測試探針臺,可在20°c至300°c的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行晶圓載片上高功率應(yīng)用的測量,且測量能力高達(dá)3kv(三軸)/10kv(同軸)和600a(脈沖)。
更新時間:2025-06-13
TS300-SE Probe System  MPI 手動晶圓探針臺系統(tǒng)(微屏蔽)
mpi ts300-shieldenvironment™(ts300-se)12英寸探針臺旨在對300mm晶圓及以下微小器件提供高emi / rfi /不透光屏蔽,超低噪聲,低泄漏測量功能環(huán)境。 它以佳高度與防震臺結(jié)合在一起,使日常操作非常方便
更新時間:2025-06-13
TS200-SE Probe System  MPI手動晶圓探針臺系統(tǒng)(微屏蔽)
mpi ts200-shieldenvironment™(ts200-se)8英寸探針臺可提供高emi / rfi /不透光屏蔽,超低噪聲,低泄漏測量功能。
更新時間:2025-06-13
TS3500 Probe System  全自動晶圓探針臺系統(tǒng)
ts3500和ts3500-se 在功能上與mpi的已建立的 ts3000 和 ts3000-se 300毫米探針臺具有相同的功能,并通過配置或升mpi獨特的waferwallet™而具有完全自動化的功能。mpi的解決方案通過提供比其他供應(yīng)商的半自動化產(chǎn)品更少的完全自動化功能,降低了客戶的總體測試成本。
更新時間:2025-06-13
SiPH Probe System  半自動晶圓探針臺系統(tǒng)
mpi為其的ts2000-se,ts3000,ts3000-se,ts3500和ts3500-se探針系統(tǒng)設(shè)計了用的siph升,
更新時間:2025-06-13
TS3000 Probe System 半自動300mm探針臺測試系統(tǒng)
mpi的ts3000是半自動300mm探針臺測試系統(tǒng),搭配獨特的可開放式下做高低溫測試,門為產(chǎn)品工程,故障分析,設(shè)計驗證,晶圓可靠性以及rf和mmw應(yīng)用而設(shè)計。
更新時間:2025-06-13
超低溫磁場探針臺
半自動真空低溫探針臺使晶圓和器件在低溫下9k(singleccr系統(tǒng))、4.5k(dualccr系統(tǒng))甚至低于4k(triple ccr系統(tǒng))的情況下能夠快速、經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行測試。低溫探針臺,設(shè)計用于支持在真空或氣體環(huán)境中對高達(dá)100mm、150mm或高達(dá)300mm的晶圓進(jìn)行自動動或半自動測試。 系統(tǒng)精度高、成本低、噪音低、使用方便。系統(tǒng)建立在一個振動補(bǔ)償?shù)亩喙δ芷脚_上,能夠配置來各種測試應(yīng)用程序。
更新時間:2025-06-13

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機(jī) 酸度計(PH計) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑