掃描電子顯微鏡（SEM）產品及廠家

日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設定視野到生成報告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時間:2025-09-11
日本JEOL熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f
更新時間:2025-09-11
日本JEOL低溫冷凍離子切片儀
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2025-09-11
日本JEOL 離子切片儀
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-09-11
日本JEOL截面樣品拋光儀
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-09-11
日本JEOL截面樣品制備裝置
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-09-11
日本JEOL 截面樣品拋光儀
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構造設計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機構，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-09-11
日本JEOL 軟X射線分析譜儀
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機，實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準)的高能量分辨率進行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-09-11
日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2025-09-11
日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結構。
更新時間:2025-09-11
日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-09-11
日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2025-09-11
日本電子JEOL場發(fā)射掃描電鏡
jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時將分辨率提高到新的限，全新設計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2025-09-11
德Neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡
德neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設計優(yōu)勢，采用專利保護的雙光路設計，完全可以實現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時，由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源（thz-tds），也可以實現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-09-11
太赫茲近場光學顯微鏡
thz-neasnom太赫茲近場光學顯微鏡 -30nm光學信號空間分辨率
更新時間:2025-09-11
經濟型掃描電子顯微鏡 KYKY-EM3200系列
產品說明： kyky-em3200系列掃描電鏡在電氣控制系統(tǒng)、計算機系統(tǒng)、操作控制軟件、圖像控制系統(tǒng)、圖像處理軟件、自動控制功能 等諸多方面都進行了改進。主要特點是穩(wěn)定可靠、結構緊湊、操作方便、維護簡單，是一款性價比較高的經濟型電鏡。
更新時間:2025-09-11
電子掃描顯微鏡KYKY-EM6900
類型 電子顯微鏡 品牌 中科 型號 kyky-em6900 目鏡放大倍數 n/a 物鏡放大倍數 n/a 儀器放大倍數 1.5-300000x 加工定制 否
更新時間:2025-09-11
實用型掃描電子顯微鏡KYKY-2800
產品說明： kyky-2800型掃描電子顯微鏡是中國科學院在幾十年的掃描電鏡研究和生產基礎上，引用現(xiàn)代最新計算機及數字圖像技術， 開發(fā)出的高性能產品。該產品除具有原kyky電鏡優(yōu)良工藝和穩(wěn)定可靠特性外，新增加了各種計算機自動控制及調節(jié)功能，尤其是采用了專用圖像處理器進行圖像分析處理，使掃描電鏡與圖像分析得到完美結合。在window
更新時間:2025-09-11
徠卡顯微鏡 dm2000 & dm2000 ledleica dm2000 & dm2000 led - 生物，醫(yī)療顯微鏡 生物，醫(yī)療顯微鏡 leica dm2000顯微鏡具有高模塊設計 和 高性能的熒光 ，因此可理想地用于 病理學、細胞學 ，以及其它復雜工作域。 為了滿足不同使用域的要求，leica dm2000可以配備 各種光學和對比度技術 。
更新時間:2025-09-10
供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-09-10
供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-09-10
供應蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-09-10
供應日立SU9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點： 1. 新型
更新時間:2025-09-10
供應蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡
s­-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學系統(tǒng)，強大的自動化功能，操作更簡易。 特點: 1. s-3400n具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2025-09-10
供應蘇州日立S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析 ● 樣品室設置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達臺可以傾
更新時間:2025-09-10
供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-09-10
供應蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-09-10
日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡適用于納米材料、化學、新材料、半導體器件的觀察和分析。
更新時間:2025-09-10
韓國SEC掃描電子顯微鏡
sne-3000ms系列產品是針對工廠和實驗室配置的一款高端掃描電鏡.
更新時間:2025-09-10
韓國賽可臺式掃描電鏡4500
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機 - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2025-09-10
韓國SEC掃描電子顯微鏡采購價格
sne-3000ms系列產品是針對工廠和實驗室配置的一款高端掃描電鏡.
更新時間:2025-09-10
韓國賽可臺式掃描電鏡4500主要功能
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機 - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2025-09-10
TESCAN--場發(fā)射掃描電鏡 MIRA
ui新一代的mira場發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了zui新的技術優(yōu)點（如改進的高性能電子設備使成像過程更快，快速掃描系統(tǒng)包括了動態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補償，有內置的編程軟件等），同時保持著zui高的性價比。mira3的設計適用于各種各樣的sem應用及當今研究和產業(yè)的需求。大電子束流下的高分辨率有利于分析應用，例如：ebsd、wdx等分析。mira3場發(fā)射掃描電鏡可配置lm、xm或gm三種樣品室。
更新時間:2025-09-09
鎢燈絲掃描電鏡 VEGA
vega系列的設計適合各種sem應用及當今研究和工業(yè)的需求。經過10多年的不斷發(fā)展，tescan已經成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產品。新一代的vega給用戶帶了zui新的技術優(yōu)勢，包括改進的高性能電子設備使成像速度更快，包含了靜態(tài)和動態(tài)圖像扭曲補償技術的超快掃描系統(tǒng)，內置的編程軟件等，使vega系列產品保持著非常高的性價比。
更新時間:2025-09-09
日本電子掃描電子顯微鏡
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強大的"zeromag"功能，讓您從光學顯微鏡的觀察方式，輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實現(xiàn)了sem影像觀察時實時的eds成份分析。
更新時間:2025-09-09
和伍水浸超聲掃描顯微鏡半導體缺陷檢測儀
超聲掃描顯微鏡（sat）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設備，主要利用高頻超聲波，對各類半導體器件、材料進行檢測，能夠檢測出樣品內部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中，不會對樣品造成損傷，不會影響樣品性能，可有效滿足新能源、半導體、電力電子、熱管理材料、金剛石復合材料、碳纖維復合材料等行業(yè)需求。
更新時間:2025-09-09
Sema6A抗體
sema6a抗體，本公司作為國家重點實驗室及國內各大院校長期指定供應商，質量保證，價格低，抗體抗原，一抗二抗，單抗多抗，各種標記抗體，蛋白多肽，期待您的來電！
更新時間:2025-09-09
Sema6A抗體
我公司銷售各種類抗體，產品數量多，產品齊全，抗體純化、抗體制備，提供權威技術支持。單克隆抗體制備、多克隆抗體制備、抗體標記，歡迎來電咨詢:顆粒蛋白前體抗體
更新時間:2025-09-08
氨基脲鹽酸鹽，鹽酸氨脲，肼甲酰胺鹽酸鹽，Semicarbazide hydrochloride
生化試劑氨基脲鹽酸鹽，鹽酸氨脲，肼甲酰胺鹽酸鹽，semicarbazide hydrochloride現(xiàn)貨銷售，可先提供發(fā)票，到貨時間3-5天，產品詳細信息可咨詢在線客服！
更新時間:2025-09-08
elisa kit for semaphorin 7a (sema7a)
更新時間:2025-09-08
elisa kit for semaphorin 7a (sema7a)
更新時間:2025-09-08
elisa kit for semaphorin 3c (sema3c)
更新時間:2025-09-08
elisa kit for semaphorin 3f (sema3f)
更新時間:2025-09-08
elisa kit for semaphorin 3e (sema3e)
更新時間:2025-09-08
elisa kit for semaphorin 4a (sema4a)
更新時間:2025-09-08
elisa kit for semaphorin 3a (sema3a)
更新時間:2025-09-08
臂板蛋白4C(Sema4C)抗體
本公司為您提供：臂板蛋白4c（sema4c）抗體，公司主營菌種，細胞，抗體，試劑，耗材，實驗室常用設備等，更多信息請咨詢在線客服：13817240771
更新時間:2025-09-08
臂板蛋白3F(Sema3F)抗體
本公司為您提供：臂板蛋白3f（sema3f）抗體，公司主營菌種，細胞，抗體，試劑，耗材，實驗室常用設備等，更多信息請咨詢在線客服：13817240771
更新時間:2025-09-08
臂板蛋白3C(Sema3C)抗體
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更新時間:2025-09-08

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