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SNE-3000MS韓國SEC掃描電子顯微鏡

sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對工廠和實驗室配置的一款高端掃描電鏡.

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：元豐技術(shù)（東莞）有限公司

table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機 - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：元豐技術(shù)（東莞）有限公司

SNE-3000MS韓國SEC掃描電子顯微鏡采購價格

sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對工廠和實驗室配置的一款高端掃描電鏡.

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：元豐技術(shù)（東莞）有限公司

SNE-4500韓國賽可臺式掃描電鏡4500主要功能

table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機 - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：元豐技術(shù)（東莞）有限公司

Crossbeam 350，Crossbeam 550德國ZEISS蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB/SEM

德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

JSM-IT200 InTouchScope日本JEOL掃描電子顯微鏡

日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結(jié)果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

JSM-IT500HR日本JEOL掃描電子顯微鏡

日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

JSM-7900F日本JEOL熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡

日本jeol熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

JSM-IT800SHL日本電子JEOL場發(fā)射掃描電鏡

jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時將分辨率提高到新的限，全新設(shè)計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標(biāo)配 jeol 新開發(fā)的 neo

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

EVO 10ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡

zeiss 高分辨電子掃描顯微鏡-evo 10,具備自動化工作流程的高清晰掃描電鏡

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

i-Wafer德國KSI 型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)

德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)，在ksi i-wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

i-IngotKSI 型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng)

ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達450mm，檢測時間短，也不需要做其它設(shè)定。

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

Nano型KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)

ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

V-duo德國KSI 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)

ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)，同時使用2只換能器

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

IB-09060CIS日本JEOL低溫冷凍離子切片儀

日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

EM-09100IS日本JEOL 離子切片儀

日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

IB-19530CP日本JEOL截面樣品拋光儀

日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

IB-19530CP日本JEOL截面樣品制備裝置

日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

IB-19520CCP日本JEOL 截面樣品拋光儀

日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

日本JEOL 軟X射線分析譜儀

日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機，實現(xiàn)了高的能量分辨率。和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進行分析，超過了wds的能量分辨率。

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

JXA-iHP100日本JEOL 電子探針顯微分析儀

日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

JIB-4000日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)

日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進行sim觀察、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

JIB-4700F日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)

日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進行高分辨率觀察和高速分析。

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

JSX-1000S日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀

日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

HV-THz-neaSNOM德Neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡

德neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計優(yōu)勢，采用專利保護的雙光路設(shè)計，完全可以實現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時，由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源（thz-tds），也可以實現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

THz-NeaSNOM太赫茲近場光學(xué)顯微鏡

thz-neasnom太赫茲近場光學(xué)顯微鏡 -30nm光學(xué)信號空間分辨率

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

SEM掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡#2023已更新

sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷。

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：上海雋思實驗儀器有限公司

SEM掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡

sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷。

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：上海雋思實驗儀器有限公司

JCM-7000日本電子掃描電子顯微鏡

日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強大的"zeromag"功能，讓您從光學(xué)顯微鏡的觀察方式，輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實現(xiàn)了sem影像觀察時實時的eds成份分析。

更新時間:2025-06-13

該公司產(chǎn)品分類：惠州市華高儀器設(shè)備有限公司

Phenom G6 pureFEI臺式掃描電鏡Phenom飛納標(biāo)準(zhǔn)版

第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀察亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。pure 具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點，適用于傳統(tǒng)大電鏡待測樣品的快速篩選，也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶。

更新時間:2025-06-13