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其他產(chǎn)品及廠家

Pcie1.0x16 眼圖測試物理層一致性測試

pcie1.0x16 眼圖測試物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當?shù)臅r代，工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和有助于自己設計的經(jīng)驗，但是經(jīng)驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設計需求。

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術有限公司

pcie3.0x4 眼圖測試物理層致性測試下面是個 ddr3 設計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設計時，工程師會按照主芯片給的設計規(guī)范進行設計。結合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結構， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術有限公司

Pcie3.0x8 眼圖測試物理層一致性測試

pcie3.0x8 眼圖測試物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術有限公司

Pcie3.0x16 眼圖測試物理層一致性測試

pcie3.0x16 眼圖測試物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設計改板后的測試結果與仿真致。如果不進行仿真，那么只能在產(chǎn)品設計完成之后進行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善，只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術有限公司

EMMC 上電時序測試電源紋波測試

emmc 上電時序測試電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導致貼片虛焊。

更新時間:2025-06-18

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EMMC 時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試

emmc 時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術有限公司

EMMC 控制信號測試控制信號過沖測試控制信號高低電平測試

emmc 控制信號測試控制信號過沖測試控制信號高低電平測試

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術有限公司

EMMC 復位測試 CLK測試 DQS測試

emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結果大大改善。

更新時間:2025-06-18

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EMMC4 上電時序測試電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試

emmc4 上電時序測試電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。

更新時間:2025-06-18

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Emmc5 上電時序測試電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試

相關產(chǎn)品：emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標準接口封裝。

更新時間:2025-06-18

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EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試

emmc4 , 復位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。

更新時間:2025-06-18

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EMMC5 復位測試 CLK測試 DQS測試

emmc5 復位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。

更新時間:2025-06-18

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EMMC5 復位測試 CLK測試

emmc5 復位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。

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EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復位測試

emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進入該階段。

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電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試

相關產(chǎn)品：電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試

更新時間:2025-06-18

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CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試

相關產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術有限公司

CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試電源紋波測試

相關產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術有限公司

電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試

電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試

更新時間:2025-06-18

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控制信號測試控制信號過沖測試控制信號高低電平測試 EMMC 復位測試

數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。

更新時間:2025-06-18

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數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術有限公司

CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試，眼圖測試

clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應 data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。

更新時間:2025-06-18

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數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試

數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術有限公司

I復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試

復位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當 emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術有限公司

PCIE2.0 3.0 驗證調(diào)試和一致性測試解決方案

遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術有限公司

PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試

cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術有限公司

7405ETS-LINDGREN近場探頭，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭儀器資訊

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術有限公司

ESD測試儀Nemtest dito靜電放電模擬器，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器儀器資訊

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術有限公司

GLP-GL202便攜式過濾器完整性測試儀

便攜式過濾器完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式，可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜，非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試，同時系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機軟件。

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：山東藍景電子科技有限公司

耳酷靈聽力篩查儀

力篩查是通過耳聲發(fā)射、自動聽性腦干反應和聲阻抗等電生理學檢測，在受試者自然睡眠或安靜的狀態(tài)下進行的客觀、快速和無創(chuàng)的檢查。這個聞名于兩步篩查（oae/abr）的新版本聽力篩查儀，具有快速、準確、直觀的特點。作為世界上值得信賴的聽篩產(chǎn)品之一，耳酷靈®為我們贏得了至高的聲譽。顯著提高工作效率

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：繼圣（上海）醫(yī)療器械有限公司

GLP-GL202過濾器完整性測試儀

過濾器完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式，可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜，非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試，同時系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機軟件。

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：山東藍景電子科技有限公司

GLP-GL202自動過濾器完整性測試儀

自動過濾器完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式，可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜，非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試，同時系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機軟件。

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：山東藍景電子科技有限公司

GLP-GL202全自動過濾器完整性測試儀

全自動過濾器完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式，可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜，非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試，同時系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機軟件。

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：山東藍景電子科技有限公司

GLP-GL202濾芯完整性測試儀

濾芯完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式，可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜，非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試，同時系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機軟件。

更新時間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類：山東藍景電子科技有限公司

KIC 2000KIC 爐溫測試儀

kic2000爐溫測試儀產(chǎn)品介紹加工定制：是品牌：美國kic型號：kic2000測量范圍：-50-1050（℃）測溫分辨率：0.1℃外形尺寸：320*86*26（mm）裝箱數(shù)：1

更新時間:2025-06-18