其他產(chǎn)品及廠家
pcie3.0x16 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試獲得的信號(hào)波形沒(méi)有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計(jì)改板后的測(cè)試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)完成之后進(jìn)行測(cè)試才能發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，如果要改善， 只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會(huì)延遲產(chǎn)品上市時(shí)間并增加物料成本。
更新時(shí)間:2025-06-18
emmc 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試emmc 芯片下方在敷銅時(shí)，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時(shí)間:2025-06-18
emmc 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試電源紋波測(cè)試過(guò)大的問(wèn)題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長(zhǎng)的鱷魚夾地線，而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上，整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開(kāi)關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時(shí)間:2025-06-18
emmc 控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過(guò)沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試
更新時(shí)間:2025-06-18
emmc 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試這是個(gè)典型的電源紋波測(cè)試的問(wèn)題。我們通過(guò)使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測(cè)試結(jié)果大大改善。
更新時(shí)間:2025-06-18
emmc4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開(kāi)，屏蔽層焊接在被測(cè)電路地上，中心導(dǎo)體通過(guò)個(gè)隔直電容連接被測(cè)的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本，低衰減比，缺點(diǎn)是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時(shí)間:2025-06-18
相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試通俗的來(lái)說(shuō)，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時(shí)間:2025-06-18
emmc4 , 復(fù)位測(cè)試 , clk測(cè)試 , dqs測(cè)試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時(shí)間:2025-06-18
emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時(shí)間:2025-06-18
emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試mmc通過(guò)發(fā)cmd的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問(wèn)。device identification mode包括3個(gè)階段idle state、ready state、identification state。
更新時(shí)間:2025-06-18
emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc5 復(fù)位測(cè)試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會(huì)進(jìn)入該階段。
更新時(shí)間:2025-06-18
相關(guān)產(chǎn)品：電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 , emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試
更新時(shí)間:2025-06-18
相關(guān)產(chǎn)品：clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試data strobe 時(shí)鐘信號(hào)由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號(hào)相同，用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號(hào)只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性，省去總線 tuning 過(guò)程。
更新時(shí)間:2025-06-18
相關(guān)產(chǎn)品：clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試
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電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試
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數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒(méi)有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號(hào)保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí)，host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào)，并開(kāi)始接收 response。
更新時(shí)間:2025-06-18
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒(méi)有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號(hào)保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí)，host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào)，并開(kāi)始接收 response。
更新時(shí)間:2025-06-18
clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試，眼圖測(cè)試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值，不包含 start bit。各個(gè) data line 上的 crc 為對(duì)應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。
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數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試在 ddr 模式下，data line 在時(shí)鐘的上升沿和下降沿都會(huì)傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時(shí)間:2025-06-18
復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時(shí)，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測(cè)試過(guò)程（bus testing procedure），測(cè)試總線硬件上的連通性。
更新時(shí)間:2025-06-18
遇到的問(wèn)題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時(shí)間:2025-06-18
cie2.0 3.0 物理層致性測(cè)試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備，這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時(shí)間:2025-06-18
misenbo 硬件開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場(chǎng)探頭 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-06-18
misenbo 硬件開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-06-18
便攜式過(guò)濾器完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式，可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱性膜，非對(duì)稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試，同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2025-06-18
力篩查是通過(guò)耳聲發(fā)射、自動(dòng)聽(tīng)性腦干反應(yīng)和聲阻抗等電生理學(xué)檢測(cè)，在受試者自然睡眠或安靜的狀態(tài)下進(jìn)行的客觀、快速和無(wú)創(chuàng)的檢查。 這個(gè)聞名于兩步篩查（oae/abr）的新版本聽(tīng)力篩查儀，具有快速、準(zhǔn)確、直觀的特點(diǎn)。作為世界上值得信賴的聽(tīng)篩產(chǎn)品之一，耳酷靈®為我們贏得了至高的聲譽(yù)。 顯著提高工作效率
更新時(shí)間:2025-06-18
過(guò)濾器完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式，可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱性膜，非對(duì)稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試，同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2025-06-18
自動(dòng)過(guò)濾器完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式，可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱性膜，非對(duì)稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試，同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2025-06-18
全自動(dòng)過(guò)濾器完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式，可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱性膜，非對(duì)稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試，同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2025-06-18
濾芯完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式，可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱性膜，非對(duì)稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試，同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2025-06-18
kic2000爐溫測(cè)試儀產(chǎn)品介紹加工定制：是品牌：美國(guó)kic型號(hào)：kic2000測(cè)量范圍：-50-1050（℃）測(cè)溫分辨率：0.1℃外形尺寸：320*86*26（mm）裝箱數(shù)：1
更新時(shí)間:2025-06-18
超小體積，內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測(cè)量得心應(yīng)手,設(shè)計(jì)使用壽命超過(guò)10年
更新時(shí)間:2025-06-18
超小體積，內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測(cè)量得心應(yīng)手,設(shè)計(jì)使用壽命超過(guò)10年
更新時(shí)間:2025-06-18
超小體積，內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測(cè)量得心應(yīng)手,設(shè)計(jì)使用壽命超過(guò)10年
更新時(shí)間:2025-06-18
布瑞得bathrive gx10儀器特別適用于需要無(wú)線實(shí)時(shí)傳輸數(shù)據(jù)的場(chǎng)景，屬于bathrive? 品牌第6代產(chǎn)品，在滿足低功耗的情況下實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)無(wú)線傳輸，讓實(shí)時(shí)獲得溫度數(shù)據(jù)成為現(xiàn)實(shí)，無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸距離超過(guò)2km(無(wú)障礙)
更新時(shí)間:2025-06-18
bathrive? gx10b儀器特別適用于需要無(wú)線實(shí)時(shí)傳輸數(shù)據(jù)的場(chǎng)景，屬于bathrive? 品牌第6代產(chǎn)品，在滿足低功耗的情況下實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)無(wú)線傳輸，讓實(shí)時(shí)獲得溫度數(shù)據(jù)成為現(xiàn)實(shí)，無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸距離超過(guò)2km(無(wú)障礙)
更新時(shí)間:2025-06-18
lim 系列爐溫測(cè)試儀一款革命性的測(cè)試儀器，F(xiàn)在軟件更新為profiling software。同時(shí)在原有基礎(chǔ)上增加更多的工藝曲線應(yīng)用項(xiàng)目，給予使用者帶來(lái)更為輕松的工作需求。
更新時(shí)間:2025-06-18
產(chǎn)品用途：用來(lái)對(duì)各種加熱或制冷設(shè)備進(jìn)行溫度測(cè)量.長(zhǎng)時(shí)間溫度監(jiān)控.溫度曲線測(cè)繪及溫度數(shù)據(jù)分析等適用范圍：smt電子生產(chǎn)制造.冶金.熱處理.烤漆涂裝.釬焊.ir.隧道爐等所有需要進(jìn)行溫度監(jiān)控或測(cè)量的行業(yè)
更新時(shí)間:2025-06-18
kic explorer爐溫測(cè)試儀產(chǎn)品介紹加工定制：是品牌：kic型號(hào)：explorer 7ch測(cè)量范圍：內(nèi)部操作溫度0-85（℃）測(cè)溫分辨率：0.1℃測(cè)溫精度：+/-1.2℃外形尺寸：200.0×60.0×17.0（mm）裝箱數(shù)：1
更新時(shí)間:2025-06-18
human research tool （hrt） 人因研究系統(tǒng)是贏富儀器新研發(fā)的人因研究平臺(tái)，功能強(qiáng)大，支持同步接入多種設(shè)備進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，并進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，支持定制化報(bào)告模板。
更新時(shí)間:2025-06-18
d-lab video為您提供靈活的視頻記錄和編碼分析解決方案，允許您進(jìn)行多路視頻記錄，完全不限制視頻通道數(shù)量。您可以使用帶云臺(tái)的和光學(xué)變焦的攝像頭進(jìn)行視頻記錄，還可以使用更加便攜的usb網(wǎng)絡(luò)攝像頭，方便外場(chǎng)使用。
更新時(shí)間:2025-06-18
— 可用于真實(shí)汽車在實(shí)際路上的駕駛眼動(dòng)分析，也可以用于模擬駕駛器上— 照明的穩(wěn)定性：smart eye享有盛名的紅外照明技術(shù)使該系統(tǒng)能在所有自然光照條件下發(fā)揮作用，如閃爍的陽(yáng)光，明顯的陰影以及在黑暗的環(huán)境下。佩戴眼鏡及太陽(yáng)鏡等不受影響。
更新時(shí)間:2025-06-18
gface面部表情檢測(cè)系統(tǒng)，可以自動(dòng)分析被測(cè)試者的面部表情，除了安裝 gface軟件，您只需要一個(gè)普通的網(wǎng)絡(luò)攝像頭，包括筆記本電腦的內(nèi)置攝像頭。支持實(shí)時(shí)記錄觀察，也允許導(dǎo)入視頻并進(jìn)行分析。
更新時(shí)間:2025-06-18
antisleep駕駛（疲勞）監(jiān)測(cè)系統(tǒng)系統(tǒng)概述與酒后駕駛和超速一樣，疲勞駕駛和注意力不集中也是公認(rèn)的導(dǎo)致交通事故最嚴(yán)重的因素。觀察司機(jī)的警覺(jué)性有許多線索，諸如駕駛員的心跳頻率、方向盤軌跡和車道保持等，但這些都遠(yuǎn)不如在真實(shí)的駕駛情況下做的、實(shí)時(shí)的情景監(jiān)測(cè)。smart eye antisleep是一個(gè)遠(yuǎn)程的眼睛跟蹤系統(tǒng)，把眼皮閉合、視線方向和頭部姿態(tài)三個(gè)主要監(jiān)測(cè)目標(biāo)為反映司機(jī)警覺(jué)性，并通過(guò)使用smart eye antisleep這一非侵入性設(shè)備精確監(jiān)測(cè)。
更新時(shí)間:2025-06-18
產(chǎn)品描述：德國(guó)ergoneers公司將dikablis眼動(dòng)追蹤科技與sensics頭戴式顯示器整合，為你提供虛擬現(xiàn)實(shí)場(chǎng)景下的眼動(dòng)追蹤解決方案，讓您追蹤和分析視線。
更新時(shí)間:2025-06-18
產(chǎn)品描述：瑞典smarteye眼動(dòng)儀始于1999年，10多年來(lái)于汽車工業(yè)市場(chǎng)，在汽車領(lǐng)域擁有大量的客戶，如沃爾沃、日產(chǎn)、戴姆勒克萊斯勒、通用汽車、豐田汽車、日產(chǎn)、本田、薩博等等。
更新時(shí)間:2025-06-18
產(chǎn)品描述：德國(guó)ergoneers公司憑借其在駕駛中人機(jī)交互研究領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗(yàn)，以及和眾多世界的汽車制造商、大學(xué)、科研機(jī)構(gòu)的合作，經(jīng)過(guò)多年的不斷研發(fā)，開(kāi)發(fā)出功能強(qiáng)大的simlab駕駛仿真系統(tǒng)的！
更新時(shí)間:2025-06-18
最新產(chǎn)品
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