性能特點：
1、CDW系列沖擊試驗低溫儀是本公司根據(jù)GB229-94《金屬夏比缺口沖擊試驗方法》
中對低溫裝置的要求而研制開發(fā)的半導體制冷設備。
2、本設備應用熱電溫差致冷技術，具有致冷速度快、體積小、無噪聲、無污染、溫度
控制精確等特點，廣泛應用于航天、軍工、醫(yī)療、光電等高科技領域，是理想的固態(tài)
冷源，可滿足國家標準GB229-94所規(guī)定的各項控溫指標。
JRDW-60沖擊試驗缺口低溫試驗儀
技術說明及使用范圍：
本設備采用復疊式壓縮機制冷技術，采用熱平衡原理及循環(huán)攪拌方式，達到對試樣的自動均勻冷卻、恒溫，可完全滿足國家標準GB/T229-2002所規(guī)定的各項控溫指標。本設備操作簡單方便，工作效率高是材料低溫沖擊試驗中的最理想的試樣冷卻、保溫設備。同時亦可用于其他低溫檢測和試驗工作。
配置參數(shù)說明：
1、規(guī)格型號：JRDW-60；
2、溫度范圍：常溫～-60℃；
3、降溫速度：
| 降溫溫度 | 時 間 |
| 常溫～0℃ | 1.5℃/min |
| 0℃～-30℃ | 1.2℃/min |
| -30℃～-60℃ | 1.0℃/min |
4、有效空間：120×120×80（mm）；
5、試驗數(shù)量：60～120；
6、數(shù)顯計時：1秒～100分鐘；
7、冷卻介質：乙醇或其它不凍液；
8、電源`：AC 220V/2kW；
9、主機重量：約50kg。