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光學(xué)測(cè)量?jī)x產(chǎn)品及廠家
ContoruGT德Bruker光學(xué)輪廓儀
德bruker光學(xué)輪廓儀contorugt-表面量測(cè)系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀
更新時(shí)間:
2025-09-12
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
ALD德國(guó)Sentech 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀
sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀是一種新型的光學(xué)診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長(zhǎng)速率,厚度,折射率),在短時(shí)間內(nèi)開發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀的主要應(yīng)用。
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2025-09-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Zip 250美國(guó)OGP光學(xué)式坐標(biāo)測(cè)量?jī)x
美國(guó)ogp光學(xué)式坐標(biāo)測(cè)量?jī)x zip 250 ,5:1 accucentric 電動(dòng)變焦透鏡,在每次放大變倍時(shí)自動(dòng)校準(zhǔn),可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
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2025-09-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JY—PHa接觸角測(cè)定儀
jy—pha接觸角測(cè)定儀,用于液體對(duì)固體的浸潤(rùn)性,通過測(cè)量液體對(duì)固體的接觸角、計(jì)算、測(cè)定液體對(duì)固體的附著力,張力及固體表面能等指標(biāo)。
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2025-09-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
100標(biāo)準(zhǔn)型接觸角測(cè)量?jī)x
100標(biāo)準(zhǔn)型接觸角測(cè)量?jī)x,采用高性能日本原裝進(jìn)口工業(yè)機(jī)芯,工業(yè)級(jí)連續(xù)變倍顯微鏡,確保圖像的真實(shí)性,獲取最佳的成像效果。
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2025-09-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
HypotMAX 7710美Associated 耐壓測(cè)試儀
美associated 耐壓測(cè)試儀hypotmax 7710 ,是一款12 kvdc hipot測(cè)試儀,用于為電纜、電線、線束和電氣元件測(cè)試提供高直流輸出電壓。該產(chǎn)品非常易于使用,并為安全有效的測(cè)試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統(tǒng)。最后,該系統(tǒng)具有遠(yuǎn)程安全聯(lián)鎖和數(shù)控電弧檢測(cè)系統(tǒng)。
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2025-09-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
美Montana超精細(xì)多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器
montana 新型超精細(xì)多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環(huán)的制冷系統(tǒng)只需要極少量的氦氣即可讓系統(tǒng)達(dá)到極限低溫。系統(tǒng)具有超快降溫、超低震動(dòng)和超高的溫度穩(wěn)定性。全自動(dòng)化的控制軟件,簡(jiǎn)化了用戶的操作流程。
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2025-09-12
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attoCSFM德國(guó)Attocube磁共振顯微鏡/低溫強(qiáng)磁場(chǎng)磁共振顯微鏡
德國(guó)attocube磁共振顯微鏡/低溫強(qiáng)磁場(chǎng)磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數(shù)值孔徑(na)共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實(shí)驗(yàn)的需求。
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2025-09-12
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德國(guó)ThetaMetrisis FR-Mini 膜厚測(cè)量?jī)x
fr-mini 是一款緊湊型裝置,專為大學(xué)教育和研究實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì),用于快速、準(zhǔn)確和無損地表征各種不同的涂層。使用 fr-mini,用戶還可以在較寬的光譜范圍內(nèi)輕松進(jìn)行反射率和/或透射率測(cè)量。
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2025-09-12
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德國(guó)ThetaMetrisis FR-Pro 膜厚測(cè)量?jī)x
fr-pro 膜厚測(cè)量?jī)x 用于表征1nm-3mm厚度范圍內(nèi)的 涂層的模塊化和可擴(kuò)展平臺(tái)。
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2025-09-12
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德國(guó)TheMetrisis FR-Scanner自動(dòng)化超高速薄膜厚度測(cè)繪
fr-scanner 是一款緊湊的臺(tái)式測(cè)量工具,全自動(dòng)測(cè)繪涂層的厚度,基底適用于晶圓,掩膜版及其它材料。fr-scanner 可以快速和準(zhǔn)確地測(cè)量薄膜特性,比如厚度,折射系數(shù),均勻性,色度等,真空吸盤可應(yīng)用于任何直徑或其它形狀的樣品。
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2025-09-12
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TESA 2000美AZ太陽能吸收率發(fā)射率測(cè)量?jī)x
美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計(jì) tesa 2000,根據(jù)astm e408測(cè)定熱發(fā)射率和空氣質(zhì)量為零時(shí)的太陽吸收率(空間應(yīng)用)。它緊湊,輕巧,堅(jiān)固耐用,符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì),便于在野外或?qū)嶒?yàn)室中使用。
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2025-09-12
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KL-28B/28BF日本RION氣體粒子計(jì)數(shù)器
日本rion氣體粒子計(jì)數(shù)器:kl-28b/28bf( 光散射法),粒徑范圍(2個(gè)通道):≥0.2μm, ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%)
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2025-09-12
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KS-16,KS-16F日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-16/16f ( 光散射法), 大粒子數(shù)濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%), 粒徑范圍(5個(gè)通道):≥0.1μm, ≥0.15μm , ≥0.2μm , ≥0.3μm, ≥0.5μm
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KS-17B日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-17b ( 光散射法),純水用,大粒子數(shù)濃度:100 000 顆/ml (誤差值低于5%),粒徑范圍(2個(gè)通道):≥0.05μm, ≥0.1μm (4通道需工廠定制)
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2025-09-12
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KS-19F日本理音RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本理音rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測(cè)試范圍,可測(cè)試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
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KC-24日本RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-24 ( 光散射法),液體粒子計(jì)數(shù)器,可檢測(cè)從純水到氫氟酸各種各樣的液體?蓽y(cè) 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
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2025-09-12
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KS-41A日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41a ( 光阻用),可檢測(cè)光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍(4個(gè)通道,出廠默認(rèn)):≥0.15μm, ≥0.2μm , ≥0.3μm , ≥0.5μm
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KS-18F日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-18f ( 光散射法)液體光學(xué)顆粒度儀 ks-18f寬廣的測(cè)試范圍,可測(cè)試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。 可偵測(cè)到小粒徑 0.05um 的粒子
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2025-09-12
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KS-42A,KS-42AF日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法),可測(cè)試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
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2025-09-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-42B,KS-42BF日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法),寬廣的測(cè)試范圍,可測(cè)試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
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2025-09-12
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KS-42C日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42c ( 光散射法),寬廣的測(cè)試范圍,可測(cè)試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
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2025-09-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-20F日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本理音 rion 粒子計(jì)數(shù)器 ks-20f,檢測(cè)粒徑為0.02μm的顆粒,從0.02μm到0.08μm可達(dá)7個(gè)通道
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2025-09-12
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KC-01E日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-01e ( 光散射法),液體粒子計(jì)數(shù)器,測(cè)試粒徑(5個(gè)通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm
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2025-09-12
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KC-03B日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-03b ( 光散射法),測(cè)試粒徑(5個(gè)通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm
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2025-09-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Model 659OAI UV METER
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
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2025-09-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
TFXRD-300/200日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測(cè)角儀,用于氮化鎵(gan)質(zhì)量管理,可對(duì)應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統(tǒng)
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2025-09-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
TFXRD-300/200日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測(cè)角儀,用于氮化鎵(gan)質(zhì)量管理,可對(duì)應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統(tǒng)
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2025-09-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Contour X布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測(cè)量需要
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2025-09-12
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Contour X-200布魯克Bruker 三維光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker contourx-200 三維光學(xué)輪廓儀,靈活的臺(tái)式表面形貌測(cè)量設(shè)備
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2025-09-12
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DektakXT布魯克臺(tái)階儀-探針式表面輪廓儀
布魯克 dektakxt 臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)設(shè)計(jì)創(chuàng)新,實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率,垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5å。第十代 dektakxt臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù)突破,實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測(cè)量,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)域。
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2025-09-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
DSC 300德國(guó)NETZSCH差示掃描量熱儀
差示掃描量熱儀dsc 300 ,是全面、可靠的dsc儀器系列,表征材料熱性能游刃有余。
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2025-09-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
LFA 467 HyperFlash德國(guó)NETZSCH 閃射法導(dǎo)熱儀
lfa 467 hyperflash 閃射法導(dǎo)熱儀,自由選擇測(cè)試氣氛,優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置與閃射光源,16位自動(dòng)進(jìn)樣器,高的測(cè)量效率,寬廣的溫度范圍,靈活配備冷卻系統(tǒng),設(shè)計(jì)獨(dú)特,性能優(yōu)異,配備氙燈光源的,高溫測(cè)試系統(tǒng),寬廣的溫度范圍,真空密閉爐體,確保氣氛純凈,防止氧化,內(nèi)置微型管式爐,更高的測(cè)量效率,高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導(dǎo)熱材料的解決方案
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2025-09-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-41B日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41b,可檢測(cè)光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。
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2025-09-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-19F日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測(cè)試范圍,可測(cè)試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:
2025-09-12
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
WL/XQZ光學(xué)測(cè)角比較儀
光學(xué)測(cè)角比較儀結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,使用廣泛,它是用比較的方法測(cè)定角度的良好儀器,它與標(biāo)準(zhǔn)件或角度塊規(guī)比較可測(cè)量金屬與光學(xué)零件的角度;測(cè)量導(dǎo)軌的直線性;測(cè)量零件部件的平行度;測(cè)量?jī)蓚(gè)平面的垂直度。此外,還可以與多面體或角度塊組合使用進(jìn)行分度測(cè)量等工作。
更新時(shí)間:
2025-09-12
該公司產(chǎn)品分類:
北京北瑞未來分析儀器有限公司
HC7光學(xué)測(cè)角比較儀
光學(xué)測(cè)角比較儀結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,使用廣泛,它是用比較的方法測(cè)定角度的良好儀器,它與標(biāo)準(zhǔn)件或角度塊規(guī)比較可測(cè)量金屬與光學(xué)零件的角度;測(cè)量導(dǎo)軌的直線性;測(cè)量零件部件的平行度;測(cè)量?jī)蓚(gè)平面的垂直度。此外,還可以與多面體或角度塊組合使用進(jìn)行分度測(cè)量等工作。
更新時(shí)間:
2025-09-12
該公司產(chǎn)品分類:
北京北瑞未來分析儀器有限公司
CHD-200端子檢測(cè)顯微鏡,端子測(cè)量顯微鏡,端子分析顯微鏡
端子分析儀chd-200是針對(duì)線束行業(yè)品質(zhì)檢驗(yàn)而專門研發(fā)的一款精密檢測(cè)分析設(shè)備,整套系統(tǒng)由端子切割設(shè)備、研磨設(shè)備、腐蝕清洗、斷面圖像采集系統(tǒng)、線束端子圖片測(cè)量分析系統(tǒng)等單元組成,采用人體力學(xué)設(shè)計(jì),模塊化組合,流水線式工作流程,讓操作更方便、快捷。全套檢測(cè)系統(tǒng)可在5分鐘內(nèi)完成一個(gè)端子的處理分析,極大地提高了端子斷面品質(zhì)檢驗(yàn)的速度。簡(jiǎn)易的操作、高品質(zhì)的圖像采集系統(tǒng)、精確的測(cè)量分析為您的生產(chǎn)保駕護(hù)航
更新時(shí)間:
2025-09-12
該公司產(chǎn)品分類:
上海創(chuàng)洪實(shí)業(yè)有限公司
CHL-200拉絲模具測(cè)量?jī)x
拉絲模具測(cè)孔儀對(duì)拉絲?讖.孔型進(jìn)行測(cè)量.拉絲模具測(cè)孔儀對(duì)異型孔也可以進(jìn)行測(cè)量.拉絲模具測(cè)孔儀也可以對(duì)孔型及表面光潔度進(jìn)行觀察.拉絲模具測(cè)孔儀操作簡(jiǎn)單.易學(xué).高效.高精度
更新時(shí)間:
2025-09-12
該公司產(chǎn)品分類:
上海創(chuàng)洪實(shí)業(yè)有限公司
CHG-1000拉絲模具檢查儀,拉絲模檢測(cè)儀,拉絲模缺陷檢查,拉絲模缺陷分析
觀察拉絲模具定徑區(qū)和壓縮區(qū),出口區(qū)的缺陷及光潔度。本產(chǎn)品改變了傳統(tǒng)用顯微鏡觀察的方式,把要觀察的部位以影像的方式呈現(xiàn)出來,解決視力疲勞問題,方便溝通和顯微鏡使用方法一樣,只是觀察方式的改變。專用模具支架,方便使用。適用于各種類型,各種孔徑的拉絲模具。
更新時(shí)間:
2025-09-12
該公司產(chǎn)品分類:
上海創(chuàng)洪實(shí)業(yè)有限公司
ch-01陶瓷插芯測(cè)孔儀,光纖陶瓷插芯測(cè)孔儀,陶瓷插芯同心度測(cè)量?jī)x
測(cè)量陶瓷插芯的內(nèi)孔孔徑,外圓直徑,圓度,內(nèi)外圓同心度。陶瓷插芯的圓柱的直線度,平行度
更新時(shí)間:
2025-09-12
該公司產(chǎn)品分類:
上海創(chuàng)洪實(shí)業(yè)有限公司
CLT800YY1081-2011西安信捷CLT800醫(yī)用內(nèi)窺鏡冷光源檢測(cè)系統(tǒng)
yy1081-2011西安信捷clt800醫(yī)用內(nèi)窺鏡冷光源檢測(cè)系統(tǒng)產(chǎn)品設(shè)計(jì)依據(jù)醫(yī)藥行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)《yy 1081—2011醫(yī)用內(nèi)窺鏡 內(nèi)窺鏡供給裝置 冷光源》,主要用于
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2025-09-12
該公司產(chǎn)品分類:
西安信捷智能檢測(cè)科技有限公司
ECR900YY0068.1-2008檢測(cè)設(shè)備-醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)性能檢測(cè)儀
ecr900醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)性能檢測(cè)儀依據(jù)“yy 0068.1-2008 “醫(yī)用內(nèi)窺鏡 硬性內(nèi)窺鏡 第1部分:光學(xué)性能及測(cè)試方法”標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試要求,用于腹腔鏡、氣管鏡等多種常用內(nèi)窺鏡的光學(xué)性能測(cè)試。適用于內(nèi)窺鏡生產(chǎn)制造廠商對(duì)于產(chǎn)品的品控與設(shè)計(jì)驗(yàn)證,檢測(cè)機(jī)構(gòu)對(duì)于內(nèi)窺鏡產(chǎn)品的質(zhì)檢和監(jiān)督,科研院所對(duì)于內(nèi)窺鏡的科學(xué)研究。
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2025-09-12
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CLT800內(nèi)窺鏡供給裝置 冷光源YY 1081—2011標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)儀
1、滿足標(biāo)準(zhǔn):《yy 1081—2011醫(yī)用內(nèi)窺鏡 內(nèi)窺鏡供給裝置 冷光源》;2、設(shè)備用途:內(nèi)窺鏡供給裝置冷光源檢測(cè)。
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SGH650供應(yīng)陜西氣腹機(jī)綜合性能檢測(cè)裝置YY0843-2011標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)設(shè)備
滿足標(biāo)準(zhǔn):這是一款根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)yy0843-2011研發(fā)生產(chǎn)的一款用于測(cè)試氣腹機(jī)氣壓、流量、顯示耗氣量準(zhǔn)確性等性能的標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)設(shè)備。
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CRT700牙科復(fù)合樹脂材料磨耗性能檢測(cè)裝置YY/T 0113標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試儀
滿足標(biāo)準(zhǔn):該設(shè)備是根據(jù)yy/t 0113《牙科學(xué) 復(fù)合樹脂耐磨耗性能測(cè)試方法》標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)的。設(shè)備用途:用于檢測(cè)牙科復(fù)合樹脂材料的磨耗性能。
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YY0068.1-2008標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)內(nèi)窺鏡視場(chǎng)角 視向角測(cè)試儀
該設(shè)備是對(duì)醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)性能進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備,是西安信捷依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)《yy 0068.1—2008》研發(fā)設(shè)計(jì)生產(chǎn)的。
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ECR900 YY 0068.1標(biāo)準(zhǔn)硬性醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)性能測(cè)試方法
該設(shè)備是依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)yy 0068.1—2008研發(fā)設(shè)計(jì)的。主要是用于檢測(cè)醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)性能。
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COT150 YY0763-2009標(biāo)準(zhǔn)醫(yī)用內(nèi)窺鏡檢測(cè)裝置供應(yīng)商
yy0763標(biāo)準(zhǔn)醫(yī)用內(nèi)窺鏡檢測(cè)裝置的檢測(cè)功能:1.內(nèi)窺鏡光纜出光角測(cè)試2.光譜透過率測(cè)定3.光能傳遞效率測(cè)定4.扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)5.短暫壓扁試驗(yàn)6.拉伸試驗(yàn)
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LDP700 GB/T 20145標(biāo)準(zhǔn)燈和燈系統(tǒng)光生物安全檢測(cè)設(shè)備
燈和燈系統(tǒng)光生物安全檢測(cè)設(shè)備是西安信捷智能檢測(cè)科技有限公司依據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)《iec 62471:2006 燈和燈系統(tǒng)的光生物安全性》和《gb/t 20145-2006 燈和燈系統(tǒng)的光生物安全性》研發(fā)設(shè)計(jì)的。
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