原子力顯微鏡（AFM）產品及廠家

法國CSI原子力顯微鏡
法國csi原子力顯微鏡——最具性價比的解決方案。法國csi原子力顯微鏡廣泛應用于納米科學領域、材料、表面科學、聚合物、薄膜、半導體、生物材料、光電、導電表面表征…
更新時間:2025-09-10
法國CSI原子力顯微鏡
低噪音的激光器和電子系統(tǒng)、無干擾、純偏轉信號，更好的分辨率（圖像和力曲線）。 xy驅動分辨率：24位控制，0.06am； z驅動分辨率：24位控制，0.006am； 微弱的相干激光器：658nm波長，功率小于1mw。
更新時間:2025-09-10
拉曼原子力顯微鏡系統(tǒng)
alpha300 ra –在一個系統(tǒng)里面集成化學成分分析和納米級別的結構成像alpha300 ra 是市場上首個高度集成的拉曼原子力顯微鏡系統(tǒng)，可以在標準的alpha 300r共聚焦拉曼系統(tǒng)上通過標準模塊升級即可完成拉曼原子力系統(tǒng)聯(lián)用，獲得原位的afm和raman圖像的疊加。alpha300 ra 獨特的設計理念使聯(lián)用系統(tǒng)既保留300r強大的化學組分分析能力，同時加入微納級別的表面形貌等特性的分析能力，使研究者能對樣品進行深度完善的分析和理解。
更新時間:2025-09-10
Bruker原子力顯微鏡-- Dimension Edge
dimension edge原子力顯微鏡采用了布魯克的一些創(chuàng)新技術，達到了同類產品的zui高水平，為納米尺度的科學研究提供了高效率、高性價比的強大工具。
更新時間:2025-09-09
Bruker原子力顯微鏡-- Dimension FastScan
dimension fastscantm 原子力顯微鏡（atomic force microscope，afm），在不損失dimension® icon®超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，zui大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創(chuàng)新，從根本上解決了afm成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的afm用戶獲得高質量數據的時間,是世界上掃描速度zui快的原子力顯微鏡。
更新時間:2025-09-09
Bruker原子力顯微鏡-- Dimension Icon
dimension icon 系列作為布魯克公司(bruker axs)原子力顯微鏡的旗艦產品，凝聚了多項行業(yè)ling先的zhuan li技術，是二十多年技術創(chuàng)新、客戶反饋和行業(yè)應用的結晶。
更新時間:2025-09-09
原子力顯微鏡
bruker原子力顯微鏡-dimension icon
更新時間:2025-09-09
原子力顯微鏡
bruker原子力顯微鏡-dimension fastscan
更新時間:2025-09-09
原子力顯微鏡
bruker原子力顯微鏡dimension edge
更新時間:2025-09-09
原子力顯微鏡
bruker原子力顯微鏡dimension
更新時間:2025-09-09
掃描探針顯微鏡SPM 原子力顯微鏡AFM 納米表面形貌粗糙觀測
原子力顯微鏡，納米表面形貌觀測，非固定配置，任選組合，滿足任意需求。
更新時間:2025-09-09
OLS4500 奧林巴斯 原子力激光共焦顯微鏡
輕松實現從毫米到納米無縫轉換測量。兼具激光顯微鏡和探針顯微鏡功能的一體機。
更新時間:2025-09-02
上海彥祥電子1000型原子力顯微鏡
1000型原子力顯微鏡應用：其應用范圍十分廣泛，利用原子力顯微鏡可以輕松得到樣品的表面觀察、尺寸測定、表面粗糙度、表面顆粒度分析、表面電勢梯度和電荷分布、表面磁疇、生物細胞的表面結構等？蓽y樣品有：薄膜、納米陶瓷、石墨烯、復合材料、納米復合材料、玻璃、硅片、共聚物、電池材料、半導體材料、納米纖維、蛋白質、納米粉體等。應用行業(yè)：高校（理工類）實驗室、科研機構、公安刑偵和工業(yè)檢測部門。
更新時間:2025-09-01
上海彥祥電子6800原子力顯微鏡
原子力顯微鏡應用：其應用范圍十分廣泛，利用原子力顯微鏡可以輕松得到樣品的表面觀察、尺寸測定、表面粗糙度、表面顆粒度分析、表面電勢梯度和電荷分布、表面磁疇、生物細胞的表面結構等？蓽y樣品有：薄膜、納米陶瓷、石墨烯、復合材料、納米復合材料、玻璃、硅片、共聚物、電池材料、半導體材料、納米纖維、蛋白質、納米粉體等。應用行業(yè)：高校（理工類）實驗室、科研機構、工業(yè)檢測部門。
更新時間:2025-09-01
原子力顯微鏡 懸臂反射原子力顯微鏡 探針原子力顯微鏡出租
原子力顯微鏡（atomic force microscopy）是種以物理學原理為基礎，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描，探針固定在對探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發(fā)出的激光束經懸臂反射后發(fā)生位移。檢測器接受反射光，后接受信號經過計算機系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
更新時間:2025-08-27
日立全自動型原子力顯微鏡
afm5500m是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設備在懸臂更換，激光對中，測試參數設置等環(huán)節(jié)上提供全自動操作平臺。新開發(fā)的高精度掃描器和低噪音3軸感應器使測量精度大幅提高。并且，通過sem-afm共享坐標樣品臺可輕松實現同一視野的相互觀察分析。
更新時間:2025-08-26
日立環(huán)境多功能原子力顯微鏡
日立環(huán)境多功能原子力顯微鏡通過采用『綜合型holder flange開合功能』，樣品和掃描器更換更為方便的同時，免去了以往環(huán)境型spm的樣品更換后的所需的光軸調整。 也省去測試模式切換時的支架更換環(huán)節(jié)。3. 卓越的高性能采用了『swing cancel功能』，減輕了樣品的浮動，降低了漂移。提高了納米分析性能，提升了可信度。 漂移量：0.015nm/
更新時間:2025-08-26
AFM100 Plus/AFM100 多功能掃描探針顯微鏡系統(tǒng)
多功能掃描探針顯微鏡afm100 plus/afm100系統(tǒng)afm100 plus/afm100系統(tǒng)是以在研發(fā)、生產、教育等各種場合普及afm應用為目的，并追求操作性、性及率觀察的通用型高分辨掃描探針
更新時間:2025-08-26
5500M 日立全自動型原子力顯微鏡
日立5500m全自動型原子力顯微鏡afm5500m是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設備在懸臂更換，激光對中，測試參數設置等環(huán)節(jié)上提供全自動操作平臺。新開發(fā)的高精
更新時間:2025-08-26
5300E 日立環(huán)境多功能原子力顯微鏡
 環(huán)境多功能原子力顯微鏡afm5300e是一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進行測量。afm5300e還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度對樣品
更新時間:2025-08-26
原子力顯微鏡工作站
原子力顯微鏡工作站afm5000ⅱ采用全新的圖標用戶界面，標準配備參數自動設置功能(realtune ii)，即使是剛剛接觸spm的初學者或者遇到全新的樣品時，也能快速獲得準確的測量數據。
更新時間:2025-08-22
全自動型原子力顯微鏡
全自動型原子力顯微鏡 afm5500m是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設備在懸臂更換，激光對中，測試參數設置等環(huán)節(jié)上提供全自動操作平臺。新開發(fā)的高精度掃描器和低噪音3軸感應器使測量精度大幅提高。并且，通過sem-afm共享坐標樣品臺可輕松實現同一視野的相互觀察・分析。
更新時間:2025-08-22
通用型原子力顯微鏡
通用型原子力顯微鏡afm5100n除了激光檢測方式之外，全新的自檢測懸臂，在保證高分辨表面形貌觀察的同時大大簡化了afm懸臂操作，是您實驗室的不二之選。
更新時間:2025-08-22
環(huán)境型原子力顯微鏡
afm5300e是一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進行測量。afm5300e還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度對樣品表面形貌和物理特性的影響。
更新時間:2025-08-22
梅特勒-托利多 DSC1+顯微鏡 HP DSC1+顯微鏡 顯微鏡系統(tǒng)，熱分析儀
梅特勒-托利多 dsc1+顯微鏡, hp dsc1+顯微鏡 顯微鏡系統(tǒng)，熱分析儀圖像信息與dsc曲線互為補充，可更全面準確地解析樣品在升降溫過程中的轉變。
更新時間:2025-08-20
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
上海到銀川搬家有限公司歡迎您？
上海到銀川搬家公司★上海物流專線，★選擇最佳服務，…………上海物流公司）上海本耐物流有限公司，咨詢（饒經理）上海本耐物流公司歡迎來電咨詢，上海物流公司，上海物流專線，上海物流公司，上海貨運公司 ，上海貨運運輸，上海物流運輸，上海貨運專線，整車零擔運輸，設備運輸，大小件運輸，搬家運輸。
更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
布魯克Bruker（原veeco）生物AFm—Resolve
布魯克公司的bioscope resolve™生物原子力顯微鏡與倒置光學顯微鏡聯(lián)用，實現了高分辨的原子力顯微鏡成像和完整的細胞力學性質測量。
更新時間:2025-08-15
布魯克Bruker（原veeco）大樣品臺高性價比AFM—-Edge
dimension® edge™ 原子力顯微鏡采用新技術， 其儀器性能、測試功能和操作性在同類產品中處于高水平；陧數膁imension icon®平臺, dimension edge系統(tǒng)的整體設計使其 具有低漂移、低噪音的特點.
更新時間:2025-08-15
布魯克Bruker（原veeco）最高端AFm—Fastscan
dimension fastscantm原子力顯微鏡（atomic force microscope，afm），在不損失dimension  icon 超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創(chuàng)新，從根本上解決了afm成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的afm用戶獲得數據的時間。
更新時間:2025-08-15
布魯克Bruker（原veeco）性能AFm—Icon
dimension icon是dimension系列產品中的新款設備,它基于上應用廣泛的afm平臺，集合了數十年的技術創(chuàng)新、行業(yè)內先的應用定制及客戶反饋等于一身。這個系統(tǒng)經過從上到下的設計，在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表現。
更新時間:2025-08-15
布魯克Bruker（原veeco）高分辨率SPM-MultiMode8
multimode8-高分辨率spm，納米材料、高分子材料得力的科研助手1. 上高的分辨率2. 出眾的掃描能力3. 優(yōu)異的可操作性4. 非凡的靈活性與功能性5. 無限的應用擴展性
更新時間:2025-08-15
輕敲模式常用探針TESPA-V2
一包10根高質量硅蝕刻探針，用于tappingmode™和其他非接觸模式。bruker afm probes推出了其流行的tesp / tespa afm探針的改進版本。 布魯克的新系列tesp高品質優(yōu)質蝕刻硅探針為tappingmode™和空氣中的非接觸模式設定了行業(yè)標準。
更新時間:2025-08-15
布魯克Bruker原子力顯微鏡探針AFM探針輕敲模式OLTESPA-R3
更易定位，更適合如按樣品。此型號為布魯克貼標產品，同型號奧林巴斯omcl-ac240ts-r3 探針。懸臂共振頻率：70(50~90) khz（空氣中），彈性系數：2 n/m。針尖曲率半徑：7nm（典型值）al涂層。
更新時間:2025-08-15
透明晶圓缺陷掃描Lumina AT1
lumina at1可以在4分鐘內完成150毫米晶圓的掃描，對于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半導體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨特的優(yōu)勢。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時間:2025-08-15
透明晶圓缺陷掃描Lumina AT2
lumina at2可以在3分鐘內完成300毫米晶圓的掃描，對于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半導體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨特的優(yōu)勢。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時間:2025-08-15
透明晶圓缺陷掃描Lumina AT2-EFEM
lumina at2-efem可以在2分鐘內完成300毫米晶圓的掃描，對于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半導體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨特的優(yōu)勢。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時間:2025-08-15
Film sense薄膜厚度橢偏儀
film sense 多波長橢偏儀通過簡單的 1 測量，可以以高的精度和精度測定大多數透明薄膜的薄膜厚度和折射率并對許多樣品進行光學常數 n&k 等薄膜性質的測量。多波長橢偏儀提供了強大的薄膜測量功能售價只是單一波長橢偏儀和光譜橢偏儀的中等水平。film sense 偏儀非常適合在研究實驗室教室，現場處理室，工業(yè)質量控制等等。
更新時間:2025-08-15
KLA探針式表面輪廓儀
kla是全球半導體在線檢測設備市場大的供應商，在半導體、數據存儲、mems、 太陽能、光電子以及其他域中有著高的市占率。alpha-step" 探針式輪廓儀支持合階高度和粗度的2d及3d(d-600)輪廓掃描，以及翹曲度和應力的2d測量。創(chuàng)新的光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。
更新時間:2025-08-15

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