孔徑/隙度分析儀產(chǎn)品及廠家

發(fā)泡樹脂開孔率分析儀
發(fā)泡樹脂開孔率分析儀測(cè)試內(nèi)容：真密度，開孔率，閉孔率，切孔校正開孔率，切孔校正閉孔率；符合國(guó)標(biāo)gb/t 10799-2008；
更新時(shí)間:2025-08-12
孔隙率
3h-2000ps1型孔隙率儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-08-12
孔隙率儀
3h-2000ps1型孔隙率儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-08-12
孔隙率分析
3h-2000ps1型孔隙率分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-08-12
孔隙率分析儀
3h-2000ps1型孔隙率分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-08-12
孔隙率測(cè)試
3h-2000ps1型孔隙率測(cè)試儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-08-12
孔隙率測(cè)試儀
3h-2000ps1型孔隙率測(cè)試儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-08-12
孔隙率測(cè)定
3h-2000ps1型孔隙率測(cè)定儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-08-12
孔隙率測(cè)定儀
3h-2000ps1型孔隙率測(cè)定儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-08-12
孔隙率測(cè)量
3h-2000ps1型孔隙率測(cè)量?jī)x，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-08-12
孔隙率測(cè)量?jī)x
3h-2000ps1型孔隙率測(cè)量?jī)x，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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孔隙率檢測(cè)
3h-2000ps1型孔隙率檢測(cè)儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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孔隙率檢測(cè)儀
3h-2000ps1型孔隙率檢測(cè)儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面和孔隙率檢測(cè)
3h-2000pm1比表面和孔隙率檢測(cè)儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面和孔隙率檢測(cè)儀
3h-2000pm1比表面和孔隙率檢測(cè)儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面和孔隙率測(cè)量
3h-2000pm1比表面和孔隙率測(cè)量?jī)x屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面和孔隙率測(cè)量?jī)x
3h-2000pm1比表面和孔隙率測(cè)量?jī)x屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面和孔隙率測(cè)定
3h-2000pm1比表面和孔隙率測(cè)定儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面和孔隙率測(cè)定儀
3h-2000pm1比表面和孔隙率測(cè)定儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面和孔隙率測(cè)試
3h-2000pm1比表面和孔隙率測(cè)試儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面和孔隙率測(cè)試儀
3h-2000pm1比表面和孔隙率測(cè)試儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面和孔隙率分析
3h-2000pm1比表面和孔隙率分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面和孔隙率分析儀
3h-2000pm1比表面和孔隙率分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面和孔隙率
3h-2000pm1比表面和孔隙率儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面和孔隙率儀
3h-2000pm1比表面和孔隙率儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面及孔隙率
3h-2000pm1比表面及孔隙率儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面及孔隙率儀
3h-2000pm1比表面及孔隙率儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面及孔隙率分析
3h-2000pm1比表面及孔隙率分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面及孔隙率分析儀
3h-2000pm1比表面及孔隙率分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面及孔隙率測(cè)試
3h-2000pm1比表面及孔隙率測(cè)試儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面及孔隙率測(cè)試儀
3h-2000pm1比表面及孔隙率測(cè)試儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面及孔隙率測(cè)定
3h-2000pm1比表面及孔隙率測(cè)定儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面及孔隙率測(cè)定儀
3h-2000pm1比表面及孔隙率測(cè)定儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面及孔隙率測(cè)量
3h-2000pm1比表面及孔隙率測(cè)量?jī)x屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面及孔隙率測(cè)量?jī)x
3h-2000pm1比表面及孔隙率測(cè)量?jī)x屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面及空隙率檢測(cè)
3h-2000pm1比表面及孔隙率檢測(cè)儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面及孔隙率檢測(cè)儀
3h-2000pm1比表面及孔隙率檢測(cè)儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面及介孔分析
3h-2000ps2型比表面及介孔分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-08-12
比表面及介孔分析儀
3h-2000ps2型比表面及介孔分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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比表面及介孔測(cè)試
3h-2000ps2型比表面及介孔測(cè)試儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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比表面及介孔測(cè)試儀
3h-2000ps2型比表面及介孔測(cè)試儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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比表面及介孔測(cè)定
3h-2000ps2型比表面及介孔測(cè)定儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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比表面及介孔測(cè)定儀
3h-2000ps2型比表面及介孔測(cè)定儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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比表面及介孔測(cè)量
3h-2000ps2型比表面及介孔測(cè)量?jī)x，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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比表面及介孔測(cè)量?jī)x
3h-2000ps2型比表面及介孔測(cè)量?jī)x，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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比表面及介孔檢測(cè)
3h-2000ps2型比表面及介孔檢測(cè)儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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比表面及介孔檢測(cè)儀
3h-2000ps2型比表面及介孔檢測(cè)儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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比表面和介孔檢測(cè)
3h-2000ps2型比表面和介孔檢測(cè)儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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比表面和介孔檢測(cè)儀
3h-2000ps2型比表面和介孔檢測(cè)儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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比表面和介孔測(cè)量
3h-2000ps2型比表面和介孔測(cè)量?jī)x，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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