華測儀器生產(chǎn)的電熱老化試驗(yàn)平臺(tái)在材料小型輕量、高密度封裝趨勢下,結(jié)露、吸濕、電場等導(dǎo)致的絕緣不良及離子遷移問題突出,長期電化學(xué)腐蝕平臺(tái)可通過連續(xù)試驗(yàn),評(píng)估老化腐蝕引發(fā)的壽命及絕緣電阻劣化問題。該試驗(yàn)系統(tǒng)能模擬各類工業(yè)制品、零部件及原材料在實(shí)際生產(chǎn)、使用、儲(chǔ)存和運(yùn)輸中,受高壓伴隨低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、快速溫變、溫度循環(huán)等環(huán)境因素的影響,測試其功能、性能及壽命的完整性與可靠性。
更新時(shí)間:2025-08-07