x'pert pro mrd/xl是高級(jí)半導(dǎo)體材料的標(biāo)準(zhǔn)裝備,用于: 高級(jí)材料科學(xué)和納米技術(shù),半導(dǎo)體材料研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制,可以適用各種應(yīng)用,尤其適合薄膜分析,例如: 搖擺曲線分析和倒易空間mapping, 反射率和薄膜相分析,殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析, x'pert pro mrd/ xl 滿足半導(dǎo)體、led、薄膜和高級(jí)工業(yè)材料的所有高分辨xrd分析需要。xl可以滿足直徑達(dá) 300 mm的晶片分析,并有精密的自動(dòng)晶片裝載選擇;xl成為薄膜生產(chǎn)發(fā)展的先進(jìn)的分析手段,led的業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2025-07-30