其他產(chǎn)品及廠家

流動測震儀
bc302流動測震儀;軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度是基于微處理器的手持式機器狀態(tài)檢測儀器,具有振動測量和評價、軸承狀態(tài)檢測和評價功能。流動測震儀振動檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量,測量準確測量速度≥1.5m/s,存 儲溫度-10℃~60℃, 用于振動檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量,應(yīng)急救災(zāi)地完整配置.
更新時間:2025-08-16
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具,硬件測試,ddr測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
更新時間:2025-08-16
過濾器完整性測試儀
過濾器完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式,可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜,非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試,同時系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能,并且可以按照要求提供上位機軟件。
更新時間:2025-08-15
自動過濾器完整性測試儀
自動過濾器完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式,可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜,非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試,同時系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能,并且可以按照要求提供上位機軟件。
更新時間:2025-08-15
全自動過濾器完整性測試儀
全自動過濾器完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式,可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜,非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試,同時系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能,并且可以按照要求提供上位機軟件。
更新時間:2025-08-15
便攜式過濾器完整性測試儀
便攜式過濾器完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式,可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜,非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試,同時系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能,并且可以按照要求提供上位機軟件。
更新時間:2025-08-15
濾芯完整性測試儀
濾芯完整性測試儀提供多種測試環(huán)境與測試方式,可以對親水性膜、疏水性膜、對稱性膜,非對稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過濾器的氣密性、完整性進行測試,同時系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能,并且可以按照要求提供上位機軟件。
更新時間:2025-08-15
冷庫防寒背帶褲
藏 青色冷庫防寒背帶褲,聚酰胺滌綸/棉制面料,折縫式接縫,內(nèi)部襯里為內(nèi)部為dupont填充物,內(nèi)部垂直絎縫間距12到15厘米,從服裝外部看不見接縫, 和服裝同長的雙拉鏈頭拉鏈
更新時間:2025-08-15
斑馬法檢測儀
jc506-bm-2型斑馬法檢測儀是依據(jù)中華人民共和國標準gb11614-1999的技術(shù)要求而設(shè)計制造,用于檢測浮法玻璃的光學(xué)變形角(斑馬角)的測試儀器
更新時間:2025-08-15
全自動浮法玻璃斑馬角測試儀 玻璃斑馬角檢測儀 玻璃斑馬角測試儀
工作環(huán)境應(yīng)清潔,光線較暗,無陽光直射,工作時室內(nèi)環(huán)境應(yīng)不隨外界環(huán)境變化變化,無灰塵,無烈振動。
更新時間:2025-08-15
數(shù)字雜音計
xf802-y320數(shù)字雜音計,主要用于程控交換機電源,電話加權(quán)雜音電壓的測量。本儀表符合*電信聯(lián)合會(itu)建議的電話加權(quán)網(wǎng)絡(luò)雜音測試要求,并以*的數(shù)字信號處理方式來測量雜音
更新時間:2025-08-15
合金鋼化驗儀器,合金鋼成分分析儀
gq-hw2a電弧紅外碳硫分析儀: 主要技術(shù)指標:*測量范圍:碳(c)0.001%~10.000%(可擴至99.999%) 硫(s)0.0005%~0.5000%(可擴至99.999%) *分析時間:25~60s可調(diào),一般35s*分析誤差:碳優(yōu)于gb/223.69-1997標準 硫優(yōu)于gb/t223.68-1997標準 *燃燒功率:小于2.5kva; *工作原理:電弧燃燒,紅外檢測
更新時間:2025-08-15
GSC60CN多功能電氣安全電能質(zhì)量綜合分析儀,安規(guī)儀
原裝進口產(chǎn)品,觸摸屏操作簡單。由普通電池供電,方便操作現(xiàn)場更換,功能強大,可以測量電能質(zhì)量、連續(xù)性、絕緣電阻、線路/回路阻抗、接地電阻與土壤電阻率、rcd跳閘時間和電流,無跳閘時的接地回路阻抗、接觸電壓ut、相序、泄露電流、環(huán)境參數(shù)等
更新時間:2025-08-15
金屬導(dǎo)體電阻率測試儀
加工定制:是類型:指針式電阻測量儀表品牌:yaos堯順型號:dx200ghd測量范圍:10-5--105ω(mω)電 源:220±10%測試電壓:2 mv、20 mv、200 mv、2v(v)精度:0.1%重量:8.5(kg)尺 寸:345mm*480mm*145mm規(guī)格:φ30x180
更新時間:2025-08-15
KIC 爐溫測試儀
kic2000爐溫測試儀產(chǎn)品介紹加工定制:是品牌:美國kic型號:kic2000測量范圍:-50-1050(℃)測溫分辨率:0.1℃外形尺寸:320*86*26(mm)裝箱數(shù):1
更新時間:2025-08-15
SMT爐溫測試儀,美國布瑞得進口爐溫測試儀
產(chǎn)品用途:用來對各種加熱或制冷設(shè)備進行溫度測量.長時間溫度監(jiān)控.溫度曲線測繪及溫度數(shù)據(jù)分析等適用范圍:smt電子生產(chǎn)制造.冶金.熱處理.烤漆涂裝.釬焊.ir.隧道爐等所有需要進行溫度監(jiān)控或測量的行業(yè)
更新時間:2025-08-15
kic爐溫測試儀報價,SMT爐溫測試儀,爐溫測試儀供應(yīng)商,7通道爐溫測試儀
kic explorer爐溫測試儀產(chǎn)品介紹加工定制:是品牌:kic型號:explorer 7ch測量范圍:內(nèi)部操作溫度0-85(℃)測溫分辨率:0.1℃測溫精度:+/-1.2℃外形尺寸:200.0×60.0×17.0(mm)裝箱數(shù):1
更新時間:2025-08-15
爐溫測試儀回流焊波峰焊爐溫溫度記錄儀GX62
超小體積,內(nèi)置32位超強算力高速處理芯片,讓溫度測量得心應(yīng)手,設(shè)計使用壽命超過10年
更新時間:2025-08-15
超小體積,內(nèi)置32位超強算力高速處理芯片,讓溫度測量得心應(yīng)手,設(shè)計使用壽命超過10年
更新時間:2025-08-15
24通道無線溫度驗證儀,爐溫測試儀供應(yīng)
超小體積,內(nèi)置32位超強算力高速處理芯片,讓溫度測量得心應(yīng)手,設(shè)計使用壽命超過10年
更新時間:2025-08-15
布瑞得無線爐溫測試儀記錄儀GX20
布瑞得無線爐溫測試儀記錄儀gx20
更新時間:2025-08-15
SMT布瑞得爐溫曲線測試儀GX16
smt布瑞得爐溫曲線測試儀gx16
更新時間:2025-08-15
爐溫追蹤儀爐溫測試儀Bathrive_GX12
爐溫追蹤儀爐溫測試儀bathrive_gx12
更新時間:2025-08-15
布瑞得Bathrive GX10無線爐溫測試儀爐溫監(jiān)控儀
布瑞得bathrive gx10儀器特別適用于需要無線實時傳輸數(shù)據(jù)的場景,屬于bathrive? 品牌第6代產(chǎn)品,在滿足低功耗的情況下實現(xiàn)數(shù)據(jù)的實時無線傳輸,讓實時獲得溫度數(shù)據(jù)成為現(xiàn)實,無線數(shù)據(jù)傳輸距離超過2km(無障礙)
更新時間:2025-08-15
布瑞得Bathrive GX10B隧道爐爐溫測試儀
bathrive? gx10b儀器特別適用于需要無線實時傳輸數(shù)據(jù)的場景,屬于bathrive? 品牌第6代產(chǎn)品,在滿足低功耗的情況下實現(xiàn)數(shù)據(jù)的實時無線傳輸,讓實時獲得溫度數(shù)據(jù)成為現(xiàn)實,無線數(shù)據(jù)傳輸距離超過2km(無障礙)
更新時間:2025-08-15
6通道/9通道/12通道 溫度驗證儀,爐溫測試儀供應(yīng)
lim 系列爐溫測試儀一款革命性的測試儀器,F(xiàn)在軟件更新為profiling software。同時在原有基礎(chǔ)上增加更多的工藝曲線應(yīng)用項目,給予使用者帶來更為輕松的工作需求。
更新時間:2025-08-15
高溫介電溫譜測量系統(tǒng)
高溫介電溫譜測試系統(tǒng)運用三電法設(shè)計原理測量。并參考美國 a.s.t.m 標準。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,采用雙屏蔽高頻測試線纜,提高測試參數(shù)的精確度,同時抗干擾能力更強。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。搭配labview系統(tǒng)開發(fā)的huacepro軟件,具備彈性的自定義功能,可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置,符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電
更新時間:2025-08-14
高壓漏電起痕試驗儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超g
更新時間:2025-08-14
耐漏電起痕試驗儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-08-14
漏電起痕指數(shù)CTI測試儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-08-14
高壓漏電檢測儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-08-14
耐電痕試驗儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-08-14
出租Tektronix USB2.0測試夾具
出租tektronix usb2.0測試夾具
更新時間:2025-08-14
PCIE2.0 3.0 驗證 調(diào)試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-08-14
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備,這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-08-14
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處,但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中,數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
更新時間:2025-08-14
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設(shè)備進入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時,pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時間:2025-08-14
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質(zhì)量一致性測試
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-08-14
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程,在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來,集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-08-14
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號,其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路,另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-08-14
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號幅度越來越低,對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù),由于采用 4 電平調(diào)制,其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-08-14
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求,個是type00h配置請求,另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-08-14
Pcie1.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當?shù)臅r代,工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗,再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車,每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設(shè)計的經(jīng)驗,但是經(jīng)驗并不是金科玉律,也不是都適合工程師特殊的設(shè)計需求。
更新時間:2025-08-14
Pcie3.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設(shè)計時,工程師會按照主芯片給的設(shè)計規(guī)范進行設(shè)計。結(jié)合項目工程的需要,其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結(jié)構(gòu), ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中,發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時間:2025-08-14
Pcie3.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配,只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商,而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7,其vendor id為0x10ee,而device id為0x7028。
更新時間:2025-08-14
Pcie3.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進行仿真,那么只能在產(chǎn)品設(shè)計完成之后進行測試才能發(fā)現(xiàn)問題,如果要改善, 只能再改板調(diào)整,還可能出現(xiàn)改板很多次的情況,這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-08-14
梅特勒電極(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣)
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣) 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-08-14
EMMC 上電時序測試 電源紋波測試
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時,焊盤部分要增加敷銅禁布框,避免銅皮分布不均影響散熱,導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時間:2025-08-14
EMMC 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
emmc 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式,發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線,而且接地點夾在了單板的固定螺釘上,整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲,于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-08-14
EMMC 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
emmc 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
更新時間:2025-08-14

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質(zhì) 生物試劑