跌落試驗(yàn)機(jī)
用途 用于測(cè)試包裝箱在一定高度受到跌落損壞情況及評(píng)估測(cè)試物在搬運(yùn)時(shí)遭受落下這耐沖擊強(qiáng)度試驗(yàn)。 特點(diǎn)包裝箱之菱、角、面均可測(cè)試 更多詳細(xì)模擬振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)
模擬運(yùn)輸試驗(yàn)是檢測(cè)產(chǎn)品包裝設(shè)計(jì)是否符合運(yùn)輸條件的簡(jiǎn)單而必要的手段,只要符合標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)設(shè)備,才能作到質(zhì)量,避免不必要的損失。此運(yùn)輸臺(tái)是根據(jù)美國(guó)及歐洲運(yùn)輸標(biāo)準(zhǔn)。并參照美國(guó)同類設(shè)備改進(jìn)制造而成,具有精度高、 更多詳細(xì)換氣式老化試驗(yàn)箱
產(chǎn) 品 詳 情 前后之抗拉強(qiáng)度及伸長(zhǎng)率。儀器以熱風(fēng)循環(huán)方式,促使試片老化,內(nèi)箱密閉性強(qiáng),具有抽換內(nèi)箱空氣裝置,設(shè)有超溫自動(dòng)切斷保護(hù)裝置。符合標(biāo)準(zhǔn)UL-1581 、JB7444-94 、GB/T3512 更多詳細(xì)蒸氣老化試驗(yàn)箱
該試驗(yàn)箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn);半導(dǎo)體、被動(dòng)組件、零件接腳氧化試驗(yàn)。微電腦溫度控制器、L 更多詳細(xì)