產(chǎn)品名稱：X熒光鍍層測(cè)厚儀波譜校正片

產(chǎn)品型號(hào)：X熒光鍍層測(cè)厚儀CMI900，CMI920波譜校正片，測(cè)厚儀校正片，膜厚儀校正片

X-熒光鍍層測(cè)厚儀CMI900 / 920金屬鍍層厚度的準(zhǔn)確測(cè)量

CMI 900 / 920 系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析.基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/920主機(jī)的全面自動(dòng)化控制。

技術(shù)參數(shù)：      

CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x，在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先測(cè)厚行業(yè)。

A  CMI 900 能夠測(cè)量包含原子序號(hào)22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層

（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測(cè)量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測(cè)定多達(dá)5層、15 種元素。

B ：精準(zhǔn)度領(lǐng)先行業(yè) ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求 ；如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。

D ：統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、大值、小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。
CMI900/920系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；

E ：可測(cè)量任一測(cè)量點(diǎn)，可達(dá)0.025 x 0.051毫米

樣品臺(tái)選擇：
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對(duì)大面積線路板樣品的測(cè)量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用，分別為：
 一：手動(dòng)樣品臺(tái)
1 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 
2 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 
3 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 

二：自動(dòng)樣品臺(tái)

1   程控樣品臺(tái)：XYZ軸自動(dòng)控制。 
2   超寬程控樣品臺(tái)：XYZ軸自動(dòng)控制。 

CMI920系列采用開閉式樣品室，以方便測(cè)定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。如右下圖所示。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用，分別為：

1   全程控樣品臺(tái)：XYZ 三軸程序控制樣品臺(tái)，可接納的樣品高度為150mm，XY 軸程控移動(dòng)范圍為       300mm x 300mm。 此樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)測(cè)定點(diǎn)自動(dòng)編程控制。 
2   Z軸程控樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制，Z軸自動(dòng)控制，可接納的樣品高度為270mm。

3   全手動(dòng)樣品臺(tái)：XYZ三軸手動(dòng)控制，可接納的樣品高度為356mm。 
可擴(kuò)展式樣品臺(tái)用于接納超大尺寸樣品。