日立高新超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
日立高新超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000是門(mén)為電子束敏感樣品和需大300萬(wàn)倍穩(wěn)定觀察的先進(jìn)半導(dǎo)體器件,高分辨成像所設(shè)計(jì)。 更多詳細(xì)日立高新場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
日立高新場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8200系列(HITACHI UHR FE-SEM SU8200 Series,SU8220,SU8230,SU8240)采用日立高新技術(shù)公司全新開(kāi)發(fā)的冷場(chǎng)電子槍,實(shí)現(xiàn) 更多詳細(xì)日立冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
FE-SEM獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對(duì)簡(jiǎn)單,并且它可以觀察、測(cè)量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu),因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等域。近年來(lái),以Materials In 更多詳細(xì)日立肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
FE-SEM獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對(duì)簡(jiǎn)單,并且它可以觀察、測(cè)量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu),因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等域。 更多詳細(xì)