實(shí)驗(yàn)室耗材
標(biāo)準(zhǔn)樣品
樣品前處理系統(tǒng)
物理力學(xué)及測(cè)量
表面分析儀器
輪廓儀
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)
蒸汽吸附儀/蒸氣吸附儀
比表面及孔徑分析儀
激光粒度儀、納米粒度儀
在線粒度儀
研磨機(jī)、研磨儀、粉碎機(jī)、球磨機(jī)
微波消解儀
壓片機(jī)
頂空進(jìn)樣器
液體處理工作站(移液工作站)
濃縮儀
凝膠凈化系統(tǒng)（GPC）
X射線能譜儀(EDS)
有機(jī)元素分析儀
疲勞試驗(yàn)機(jī)
沖擊試驗(yàn)機(jī)
俄歇電子能譜（AES）
其它顯微鏡
數(shù)碼顯微鏡
TOC分析儀/總有機(jī)碳分析儀
同位素質(zhì)譜儀
碳硫分析儀(紅外碳硫儀)
X射線衍射儀(XRD)
激光拉曼光譜(RAMAN)
紫外、紫外分光光度計(jì)、紫外可見分光光度計(jì)、UV
紅外光譜(IR、傅立葉)
透射電子顯微鏡（透射電鏡、TEM）
氧氮分析儀（氧氮?dú)浞治鰞x）
硫氮分析儀
輝光放電質(zhì)譜儀
樣品前處理工作站
凝膠滲透色譜(GPC)/凝膠色譜
萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)
硬度計(jì)
二次離子質(zhì)譜
X光電子能譜儀(XPS/ESCA)
電子探針X射線微區(qū)分析儀(EPMA)
掃描探針顯微鏡SPM（原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM）
金相顯微鏡
立體顯微鏡、體視顯微鏡
掃描電鏡（SEM）
原子吸收光譜(AAS)
液相色譜(LC)
氣質(zhì)聯(lián)用(GC-MS)
氣相色譜儀(GC)
ICP-AES/ICP-OES
電感耦合等離子體質(zhì)譜ICP-MS
光電直讀光譜儀
離子色譜(IC)
液質(zhì)聯(lián)用(LC-MS)
X熒光光譜、XRF（能量色散型X熒光光譜儀）
X熒光光譜、XRF（波長(zhǎng)色散型X熒光光譜儀）
固相萃取儀、固相萃取裝置
快速溶劑萃取設(shè)備/快速溶劑萃取儀
成分分析儀器
聯(lián)系我們
聯(lián)系人：劉志蓉
供應(yīng)產(chǎn)品
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